Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9351468 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3
ID: 9351468
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2007
Defect review system, 12" 2007 vintage.
AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G3 Masque et Wafer Inspection Equipment d'AMAT est un système entièrement automatisé et intégré pour l'inspection des masques et wafers. C'est un élément clé de tout service complet, lithographie de production. L'unité fournit des inspections sur 1 et 2 côtés, permettant l'inspection complète du masque et des plaquettes. Sa capacité d'inspection double face permet de réduire le coût global de la propriété tout en permettant l'unification des données du masque et de la plaquette. AMAT SemVision G3 utilise l'analyse optique et visuelle 3D pour effectuer une analyse complète d'un motif sur une surface de plaquette. Il offre des performances élevées intégrées, une haute résolution et des sondes dans les modes d'application haut et bas NA. Les principales caractéristiques de la machine comprennent un étage 1010 de haute précision et un moteur linéaire, un scanner piézo de résolution 0,9 nm, un champ de vision de 1600 mm, une option de cadrage FOV de 810 nm, et une option de balayage d'élimination du fond. L'outil est équipé d'un masque automatisé et d'un aligneur de plaquettes, d'un contrôleur haute vitesse et d'un logiciel d'inspection avancé. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G3 a un faible taux de fausse alarme et fournit un moyen efficace de mesurer et d'identifier les défauts des dispositifs semi-conducteurs. Il supporte un large éventail de types de défauts critiques, y compris les particules, les particules du côté arrière, les trous de contact, les dimensions critiques de la passerelle et le recouvrement. L'actif comprend également une bibliothèque de routines propriétaires, qui peuvent être utilisés pour détecter et corriger automatiquement les défauts. SemVision G3 offre une expérience utilisateur fiable et intuitive, permettant aux opérateurs d'identifier et de corriger rapidement les défauts sur les masques et les plaquettes. Il est facile à installer, à configurer et à exploiter, permettant aux ingénieurs et aux opérateurs de comprendre rapidement comment utiliser le modèle. L'équipement est conçu pour être utilisé dans les environnements de production de semi-conducteurs les plus exigeants, garantissant des résultats de haute qualité et contribuant à fournir des performances à haut rendement. En conclusion, AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask and Wafer Inspection System from APPLIED MATERIALS est une solution très fiable et économique pour l'inspection des masques et des plaquettes. Il offre une variété de caractéristiques clés et d'avantages, qui en font un choix idéal pour les procédés de fabrication de semi-conducteurs.
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