Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9372771 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3
ID: 9372771
Taille de la plaquette: 12"
Defect review system, 12".
AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G3 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour fournir rapidement la détection et la correction des défauts. Ce système combine le matériel, le logiciel et la puissance de traitement pour capturer, analyser et corriger les erreurs dans les images de masquage des appareils de précision. Le matériel d'AMAT SemVision G3 comprend plusieurs composants. À la base se trouve une unité d'imagerie de pointe qui pilote une caméra CCD intelligente à haute résolution pour capturer l'image, permettant la visualisation et l'analyse de caractéristiques aussi petites qu'un micron. Ceci est couplé avec une machine de détection de pyramide à triple étage répétée avec un codeur linéaire intégré pour la focalisation automatique précise. Un outil de reconnaissance d'objet (ORS) utilise une gamme d'algorithmes avancés pour améliorer les images capturées avec un contraste et une netteté accrus. Les images sont ensuite traitées et analysées par l'actif d'analyse d'images (IAS). Ensuite, le G3 utilise plusieurs modules logiciels pour le traitement des données et la reconnaissance des erreurs. Cela inclut les algorithmes de segmentation et de classification (SCU), de détection des bords (EDT) et de partition. Ils permettent d'identifier et de détecter les défauts, qui sont ensuite caractérisés par une variété de mesures incluant la taille, la forme, la position et la direction. Enfin, un modèle de correction (CORR) est utilisé pour comparer les résultats sommaires aux normes stockées afin de s'assurer que les données se situent dans la plage de tolérance spécifiée. Enfin, MATÉRIAUX APPLIQUÉS L'architecture modulaire de SemVision G3 permet une variété de capacités de traitement puissantes pour garantir des résultats précis et cohérents dans différents processus de production. Parmi ceux-ci, un module de lithographie adapté, qui produit des images haute résolution de la plaquette IC tout en minimisant le bruit généré par l'étape de masquage. Il offre également un échange rapide de données entre ses différents composants pour accélérer les processus de masquage et d'inspection. Dans l'ensemble, SemVision G3 est un outil incroyablement puissant pour l'inspection des masques et des plaquettes. Il combine des algorithmes avancés de capture d'image, de traitement et d'analyse d'image sophistiqués et de puissantes capacités de gestion de données pour minimiser les erreurs dans le processus de masquage de l'appareil. Il est sûr d'être un atout inestimable pour obtenir des résultats cohérents et précis.
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