Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Semvision G5 + EDX #9145244 à vendre en France

AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS Semvision G5 + EDX est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. Ce système offre une méthode fiable et efficace pour s'assurer que les masques et plaquettes utilisés dans la fabrication des produits sont de la plus haute qualité. L'unité utilise une variété de détecteurs et de techniques d'imagerie pour examiner rapidement et avec précision les masques et les plaquettes pour détecter les défauts, les distorsions et autres imperfections. AMAT Semvision G5 + EDX se compose d'un module d'inspection de masque, d'un microscope optique, d'un réseau de dispositifs à couplage de charges (CCD), d'un détecteur d'électrons et d'un porte-échantillons. Le module d'inspection du masque utilise une caméra haute résolution et une source lumineuse haute puissance pour capturer les images microscopiques du masque. Le microscope optique est utilisé pour inspecter visuellement le masque et la plaquette pour détecter les défauts et les imperfections, tandis que le tableau CCD est utilisé pour recueillir des images numériques du masque. Le détecteur d'électrons est utilisé pour capturer et analyser des éléments nanométriques dans les masques et les plaquettes. Le porte-échantillon est conçu pour tenir solidement les masques et les plaquettes pendant l'inspection. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Semvision G5 + EDX utilise également un certain nombre d'outils et de logiciels informatiques d'analyse conçus pour évaluer rapidement et avec précision les masques et les plaquettes. Cela inclut le logiciel automatisé d'inspection des défauts, qui est conçu pour détecter et identifier les défauts dans les masques et les plaquettes. Des outils logiciels supplémentaires sont également inclus qui sont conçus pour vérifier le respect des normes internationales établies. Semvision G5 + EDX offre une combinaison unique de vitesse, précision et abordabilité qui en font un choix attrayant pour les ateliers de fabrication de semi-conducteurs cherchant à améliorer la précision et l'efficacité de leurs processus d'inspection de masque et de plaquettes. Cette machine est capable de capturer des images haute résolution à une vitesse allant jusqu'à 6 000 images par seconde et peut détecter des imperfections aussi petites que 0,15 microns. En outre, l'outil peut être facilement intégré dans les lignes de production existantes, ce qui permet un délai de commercialisation plus rapide.