Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G5 #9132901 à vendre en France

AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G5 est un équipement intégré d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour détecter et identifier les défauts des photomasques et des plaquettes semi-conductrices de pointe. Le système AMAT SemVision G5 utilise une gamme de technologies d'imagerie 3D avancées, y compris Deep Flare™, pour obtenir une sensibilité de détection de défaut inégalée. Un moteur intégré entièrement automatisé d'inspection vidéo et de métrologie permet un contrôle rapide et hautement automatisé des défauts des plaquettes et des masques. MATÉRIAUX APPLIQUÉS L'unité SemVision G5 est équipée d'un stroboscope à grande vitesse et d'une caméra CCD. Le strobe fournit une imagerie de contraste élevé des caractéristiques des photomasques, tandis que la caméra CCD détecte et capture les défauts photosensibles sur les surfaces des masques et des plaquettes. Une ouverture réglable n'éclaire que la surface d'intérêt de la puce, tandis que le grand champ de vision permet de détecter la contamination de surface, y compris les particules. La technologie Deep Flare utilise plusieurs images capturées à différents niveaux et profondeurs pour analyser les défauts d'une puce et déterminer leur taille et leur gravité. Deep Flare permet d'inspecter des caractéristiques de haute densité telles que les milieux à base de noeud 128nm, ce qui augmente la sensibilité aux défauts à petite échelle. Le module de métrologie de SemVision G5 Tool est un cadre intégré capable d'analyser à fond les photomasques et les plaquettes. L'actif est hautement automatisé et comprend un logiciel d'analyse spécialisé, qui permet un examen plus rapide et plus précis des défauts. Le moteur d'inspection vidéo augmente encore la précision des mesures de défauts, tout en fournissant un enregistrement des inspections consigné. AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G5 est une puissante solution intégrée d'inspection des masques et des plaquettes qui combine la meilleure technologie de détection des défauts avec la métrologie automatisée. Il convient à l'inspection des surfaces de photomasques et de plaquettes et peut fournir une sensibilité, une fiabilité et une précision de défaut supérieures.