Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293750168 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision
ID: 293750168
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui permet aux fabricants de semi-conducteurs d'inspecter rapidement et avec précision les masques, plaquettes et autres matériaux liés au processus. Le système utilise une variété de technologies d'imagerie pour fournir la détection des défauts, l'inspection optique et les mesures de métrologie, et une plate-forme logicielle intégrée pour soutenir le traitement et l'analyse des données, ce qui le rend idéal pour l'optimisation des processus, le contrôle des processus et l'amélioration des rendements. L'unité d'inspection AMAT SemVision est capable d'acquérir et de traiter des images dans divers formats, tels que le champ lumineux, le quadrant 4 et la double longueur d'onde. Il travaille également avec une gamme d'outils d'analyse d'images, y compris l'inspection des particules, l'analyse des bords, le balayage des lignes et la coloration pour un profilage RVB optimisé. La machine d'inspection dispose d'une caméra CCD haute définition avec une puce CCD haute résolution et une variété d'optiques pour fournir diverses capacités d'imagerie. En termes de précision et de fiabilité, l'outil APPLIED MATERIALS SemVision est équipé d'algorithmes avancés de reconnaissance de motifs et d'apprentissage profond, ainsi que d'algorithmes avancés pour la détection précise des défauts et la métrologie. Les techniques d'apprentissage automatique peuvent également être utilisées pour former l'actif à identifier et catégoriser différentes caractéristiques de divers matériaux de processus, fournissant une bibliothèque complète de comparaison d'images. Le modèle SemVision peut également effectuer une détection de bord, mesurant la taille et la forme de diverses caractéristiques sur une surface de masque ou de plaquette ainsi qu'une analyse automatique des défauts pour une meilleure caractérisation des rendements. Toutes les données d'imagerie acquises sont converties en un format de fichier compatible avec le logiciel AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Suite, permettant une gestion complète des défauts et la traçabilité. En outre, le logiciel fournit des outils puissants pour la caractérisation des défauts et l'analyse topologique, ainsi que la classification automatisée des défauts et les options de visualisation des données. AMAT SemVision permet également la maintenance des processus de masque et de plaquette, car elle offre une large gamme d'outils de moniteur de processus, multi-ports et d'analyse de cycle. En conclusion, APPLIED MATERIALS SemVision est un équipement d'inspection avancé idéal pour les fabricants de semi-conducteurs, offrant des fonctionnalités telles que la détection et l'analyse automatisées des défauts, le traitement d'image, la surveillance intégrée des processus et l'amélioration du rendement des produits. Avec ses capacités avancées d'imagerie et de logiciel, le système SemVision est certainement l'un des systèmes haut de gamme de masque et d'inspection des plaquettes sur le marché.
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