Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293762276 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Mask & Wafer Inspection Equipment est une solution d'imagerie et d'inspection innovante et puissante pour les applications photomasques et wafer dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système fournit en temps réel des images sans défaut de masques et de plaquettes permettant une détection avancée des défauts et une détection 100 % automatisée des défauts au niveau des pixels. Cette unité complète dispose d'une technologie d'éclairage avancée, d'une interface conviviale et de diverses capacités d'acquisition et d'analyse d'images. La machine est livrée avec une caméra couleur de haute qualité qui offre une excellente résolution d'image, une gamme dynamique et des caractéristiques de bruit, permettant une variété de techniques d'imagerie pour une large gamme de fonctionnalités. Un puissant outil d'éclairage automatisé fournit l'éclairage pour divers types de défauts, et un tableau de contrôle avancé pour le contrôle intégré en temps réel de l'ensemble de l'actif. Le modèle dispose également d'une interface utilisateur intuitive et graphique pour une configuration et un contrôle faciles, ainsi que d'une variété d'outils d'analyse et de visualisation d'images pour la détection et l'analyse des défauts. AMAT SemVision Equipment s'est avéré être un outil inestimable dans le monde des semi-conducteurs. Il peut détecter des défauts de n'importe quelle taille et dans n'importe quelle couche, assurant une inspection à 100 % des masques et des plaquettes avec la plus grande sensibilité et précision. Les capacités d'imagerie avancées permettent à l'opérateur de déterminer rapidement le type de défaut, et le système comprend un puissant module de classification des défauts pour l'identification et la classification automatisées des défauts. Cela garantit des images de la plus haute qualité et conduit à des rendements plus élevés de bons appareils. L'unité dispose également d'une multitude d'algorithmes automatisés de piquage et de reconstruction d'images, ainsi que de technologies de caractérisation automatique et de manipulation des masques pour assurer une mesure précise des structures dans les masques et les surfaces non planes. La technologie intégrée de manipulation du masque permet à la machine de manipuler, aligner et rejeter automatiquement les masques avec jusqu'à 480 000 défauts en moins de 1 minutes. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision Masque et Wafer Inspection Tool est un outil puissant et fiable pour les industries des semi-conducteurs, fournissant une détection et une analyse des défauts précises et fiables. Sa conception conviviale et son interface graphique intuitive garantissent la facilité de fonctionnement, tandis que l'analyse d'image avancée et les capacités de classification des défauts fournissent une solution complète pour les applications d'inspection des masques et des plaquettes. Cet atout est incontournable pour tout fabricant de semi-conducteurs, fournissant des images et des résultats de la plus haute qualité pour des rendements plus élevés et de meilleurs rendements.