Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293767211 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision est un équipement automatisé d'inspection des masques et des plaquettes utilisé par les fabricants de semi-conducteurs. Il est conçu pour détecter rapidement et avec précision les défauts dans une variété de processus de plaquettes, tels que la lithographie, la gravure, le polissage chimique et mécanique et l'oxydation. Le système AMAT SemVision comprend un grossissement élevé, une unité d'imagerie couleur haute résolution et un balayage champ lumineux/champ sombre. Il est capable de détecter des défauts jusqu'à 15nm, et il est optimisé pour l'échantillonnage aléatoire et l'inspection complète sur le terrain, ainsi que la cartographie des plaquettes à haut débit. La technologie d'imagerie utilise des algorithmes avancés et du matériel spécialisé, fournissant des capacités supérieures de détection des défauts, de caractérisation des défauts et d'identification des défauts. La machine est conçue pour analyser et collecter les informations optiques et électriques de la plaquette afin de détecter avec précision les défauts potentiels. Il dispose également de capacités d'étalonnage intégrées qui permettent des mesures de précision et l'analyse de la largeur et de la hauteur des défauts. Ces informations peuvent ensuite être utilisées pour faire la distinction entre les caractéristiques recherchées et indésirables. MATÉRIAUX APPLIQUÉS L'outil SemVision dispose d'algorithmes avancés, de matériel optimisé et de logiciels basés sur la technologie des semi-conducteurs la plus à jour. Il est équipé de techniques sophistiquées de reconnaissance des motifs et de regroupement pour détecter les motifs dans les défauts, permettant au processus d'inspection d'être plus automatisé et fiable. L'actif contient également une variété de fonctions et d'algorithmes de contrôle de la qualité pour améliorer encore la précision du processus de détection et de classification. Ceux-ci comprennent des capacités avancées de classification automatisée des défauts, et des options logicielles avancées pour la suppression de faux positifs et la hiérarchisation des défauts. En outre, il dispose d'une bibliothèque configurable par l'utilisateur de classes de défauts pour faciliter la comparaison et l'analyse des défauts. Le modèle SemVision offre un processus complet, efficace et abordable pour l'inspection et la détection des défauts des masques semi-conducteurs et des plaquettes. Il fournit une détection précise et automatisée des défauts avec une cartographie à haut débit et une inspection sur le terrain. Ses algorithmes avancés, son matériel avancé et ses techniques sophistiquées de reconnaissance des motifs permettent aux fabricants de fournir des plaquettes de haute qualité avec une fiabilité et une fiabilité accrues.