Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9235570 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision
ID: 9235570
Defect review system, parts system.
AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour fournir des niveaux élevés de précision et de débit d'inspection. Ce système est utilisé pour détecter les défauts de motifs sur les plaquettes, les masques et les plaques réticulaires, et offre une qualité d'image, une précision et une vitesse supérieures à d'autres outils d'inspection traditionnels. Cette unité fournit une analyse rapide et précise des petites caractéristiques et des défauts, permettant aux fabricants de semi-conducteurs et d'écrans plats de maximiser le rendement et de minimiser les variations de processus. La machine se compose d'un moteur optique, d'un contrôleur hôte et d'un microscope numérique intelligent qui sont tous connectés ensemble. Le moteur optique est constitué d'un détecteur optique haute résolution, d'un spectromètre et d'une source lumineuse. Le détecteur optique recueille la lumière de l'échantillon puis la stocke sous forme numérique. Le spectromètre sépare alors l'image en un certain nombre de gouttelettes représentant chacune une longueur d'onde de lumière provenant de l'échantillon. La source lumineuse est utilisée pour projeter de la lumière sur l'échantillon pour permettre au détecteur optique de capturer l'image. Le contrôleur hôte traite les informations du microscope numérique, qui est constitué des gouttelettes extraites, et affiche l'image résultante. Le contrôleur hôte peut également être connecté à des systèmes tiers, afin de permettre une analyse plus poussée des données extraites. Le microscope numérique est également chargé de fournir une représentation 3D de l'échantillon, permettant une analyse complète des endroits obscurs défectueux. L'outil peut également être intégré à un certain nombre d'autres outils et logiciels, afin de lui permettre d'interagir avec d'autres systèmes et composants. Cela permet aux utilisateurs d'accéder aux données provenant d'applications automatisées de métrologie et d'analyse, afin que les données puissent être collectées, analysées et présentées de manière unifiée. AMAT SemVision masque et wafer inspection actif est l'un des systèmes les plus précis et fiables sur le marché, offrant aux utilisateurs la flexibilité et le haut niveau de précision nécessaire pour des processus de fabrication efficaces. Grâce à ses capacités complètes d'acquisition et d'analyse de données, les utilisateurs peuvent obtenir une image complète et en temps réel de leur processus de production. De plus, son acquisition rapide et précise de données et son expérience utilisateur intuitive permettent aux utilisateurs de détecter et de diagnostiquer les problèmes potentiels dès le début du processus de production et d'obtenir des résultats rapides et précis au besoin.
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