Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9308059 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Mask & Wafer Inspection Equipment est un outil entièrement automatisé de métrologie des semi-conducteurs conçu pour détecter de manière fiable les défauts des masques et des plaquettes. Le système utilise deux fabricants, Nikon et Schneider Optical Technologies, permettant aux utilisateurs de choisir entre un grossissement modéré et élevé. Il offre également différents types de mesure tels que la réflectivité optique, la rugosité des bords, la distorsion géométrique radiale, et plus encore, ce qui le rend idéal pour les applications de recherche et de production. L'unité dispose de deux modules principaux, un module de contrôleur de machine et un module de capture d'image, chacun avec son propre ensemble de fonctionnalités. Le module de contrôleur d'outils est le cerveau de l'actif, responsable de la gestion de toutes les opérations du modèle, de l'acquisition d'images à l'analyse de données. Il est composé d'un logiciel de commande d'unité, d'une console d'imagerie et d'un terminal de commande de semi-conducteur. En outre, il dispose de panneaux de contrôle pour contrôler les paramètres de fonctionnement et d'un PC connecté à l'équipement sur USB. Le module de capture d'images comprend trois composantes principales : un microscope, un adaptateur de microscope et une caméra. Le microscope est utilisé pour fournir l'agrandissement et l'imagerie détaillée, tandis que l'adaptateur se connecte directement à la caméra et aide à s'assurer que les images sont correctement capturées et analysées par le système. Le microscope comprend à la fois une sélection de champ de vision et une sélection de paramètres optiques incluant la résolution, la taille du champ de vue et la profondeur de champ. Le microscope offre également une variété de modes d'imagerie pour répondre à diverses applications, telles que le champ lumineux, le champ noir, la polarisation, et plus encore. L'appareil photo est une unité d'imagerie numérique haute résolution qui capture des images à une résolution allant jusqu'à 4K. Le logiciel de traitement d'image de la machine permet aux utilisateurs de mesurer diverses caractéristiques de la plaquette et des masques. Le logiciel peut détecter des défauts sur la plaquette et les masques, ainsi que mesurer leurs distances radiales et leurs zones afin d'évaluer leur niveau de précision. En outre, il peut être utilisé pour mesurer des caractéristiques optiques, telles que des rayures, des rayures sur des caractéristiques spécifiques, des caractéristiques de lissage ou de déviation, et d'autres détails. Le logiciel propose également des algorithmes de traitement et d'analyse d'images pour la détection automatique des défauts, l'extraction de fonctionnalités et diverses autres fins. AMAT SemVision Mask & Wafer Inspection Tool est un outil efficace pour garantir la plus haute qualité possible du processus de fabrication des semi-conducteurs. Sa capacité à détecter avec précision les défauts et à mesurer les différentes caractéristiques de la plaquette et des masques en fait un choix idéal pour les applications de recherche et de production.