Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200 #9158469 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200 Mask and Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection plein champ qui offre l'imagerie plein champ et l'analyse des plaquettes et des réticules. Cette unité de pointe est conçue pour détecter et analyser rapidement et avec précision les défauts des étapes actuelles du processus de fabrication des semi-conducteurs, y compris toutes les technologies de lithographie disponibles. Cette machine intègre une variété de technologies d'imagerie numérique de pointe, telles que FITS, qui permet l'imagerie combinée haute résolution, l'optique d'imagerie haute vitesse fiable, ainsi que les capacités intégrales d'alignement des plaquettes et des réticules. L'outil AMAT UVision 200 offre un atout d'imagerie et d'analyse à haut débit avec une capacité de champ illimitée. En combinant l'imagerie haute résolution avec un algorithme intégré d'analyse de forme à ultra-haut niveau, le modèle est capable de localiser et d'identifier rapidement et avec précision même les plus petits défauts. Grâce à son imagerie haute résolution, à ses algorithmes d'analyse de pointe et à sa vitesse d'inspection rapide, APPLIED MATERIALS UVision 200 permet aux travailleurs des semi-conducteurs d'identifier rapidement les défauts et d'éviter les réparations coûteuses ou les retards de fabrication. Pour garantir des résultats précis et fiables, l'équipement UVision 200 est équipé d'une série de fonctions d'alignement spécialisées qui aident à garantir une qualité d'image uniforme dans les champs des plaquettes et des réticules. Le système est équipé d'un alignement optique automatisé qui aide à ajuster les paramètres d'alignement optique et assure un alignement précis de l'objet inspecté sur l'outil d'imagerie. De plus, l'unité permet un accès manuel aux commandes d'alignement qui assure en outre la précision. En outre, la machine est conçue pour analyser rapidement les données de défaut avec ses capacités d'analyse d'image haute performance. L'outil exploite un outil d'imagerie unique qui fournit des informations d'image complètes et détecte même les défauts les plus courts. L'actif est également équipé d'une fonction d'auto-analyse avancée qui aide à analyser rapidement les données de défaut sans intervention manuelle. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200 est un modèle d'imagerie et d'analyse idéal pour les processus semi-conducteurs car il est conçu pour effectuer des inspections précises et fiables pour les processus actuels et futurs. Ses capacités avancées d'imagerie, d'analyse et d'alignement aident les travailleurs des semi-conducteurs à réduire leurs coûts et à minimiser les défauts de fabrication.