Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200S #293749018 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 200S est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Le système permet une détection précise des défauts même pour les technologies de lithographie les plus récentes, fournissant des images détaillées pour examiner les motifs du dispositif et masquer en temps réel. AMAT UVision 200S utilise une unité ultramoderne d'imagerie laser UV et de puissants algorithmes logiciels pour détecter rapidement et avec précision les défauts subtils du masque et de la plaquette. Combinant une résolution d'image supérieure et des algorithmes avancés, la machine est conçue pour détecter et différencier des caractéristiques inférieures à 1 micron. Cette fonction de détection augmente considérablement la sensibilité globale de détection des défauts. MATÉRIAUX APPLIQUÉS UVISION 200S est capable d'inspecter différents types de masques, y compris réflectifs, à double motifs et chromés sur le verre, ainsi que les réticules durs et doux. Il offre également une flexibilité dans la manipulation de différentes tailles de plaquettes. L'outil utilise une source de lumière laser UV très sensible et un détecteur d'imagerie numérique haute résolution pour collecter et analyser des images. Une optique supérieure et l'utilisation de polariseurs linéaires offrent une sensibilité et un contraste d'image extrêmement élevés pour une meilleure détection des défauts. Il est équipé d'un atout de mise au point automatique intégré pour assurer le maintien de la résolution de l'image. En combinaison avec de puissants outils d'inspection AMAT, le modèle est capable de détecter rapidement les défauts de motif et les défauts SAQ (systématiques ou aléatoires), tels que les particules, l'électricité statique et les rayures. Cela aide à contrôler l'ensemble du processus de fabrication, assurant que le résultat est sans défaut. Des outils avancés de traitement d'image, de classification et de rapport sont également disponibles pour une analyse précise et automatisée. L'équipement fournit également une sortie pour les simulations de plaquettes. Les simulations de wafer permettent aux concepteurs et aux ingénieurs d'évaluer l'impact d'un motif avant de fab, ce qui permet d'éviter des erreurs coûteuses et d'assurer des conceptions de pièces de haute qualité. UVision 200S est un système moderne d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour répondre aux exigences de fabrication des semi-conducteurs les plus exigeantes. Il est très sensible, précis et capable de détecter et de différencier rapidement des caractéristiques inférieures à 1 micron, permettant le plus haut niveau de contrôle de la qualité et le rendement du produit.