Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 3 #293609484 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 3 Mask and Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection optique automatisé conçu pour être utilisé dans le processus de fabrication des semi-conducteurs BEOL. L'unité examine chaque Réticule et Wafer pour détecter les erreurs dans le masquage, la métrologie et l'alignement. Il peut être utilisé pour évaluer Reticles et Wafers à plusieurs étapes du processus BEOL, y compris les fabrications de photomasques, l'exposition des couches de résiste et les procédés de gravure. La machine est composée de plusieurs composants, qui travaillent ensemble pour fournir une inspection de haute qualité et haute résolution de toutes les fonctionnalités sur le Réticule et Wafer simultanément. Un des composants principaux est l'outil de projecteur de faisceau, qui abrite l'ensemble scanner de faisceau et lentille, ainsi qu'un porte-substrat réticule. Cet atout est conçu pour focaliser un faisceau lumineux visible sur le Réticule ou la Plaquette et scanner avec précision toute la surface, ligne par ligne. Le faisceau est ensuite réfléchi par le Réticule ou Wafer vers le modèle de projecteur de faisceau et analysé. Le composant suivant est l'unité de reconnaissance de motifs, qui est utilisé pour analyser les données de l'équipement de projecteur de faisceau et détecter les erreurs et les défauts sur le réticule et la plaquette. Cette unité utilise des algorithmes avancés pour détecter des défauts qui peuvent ne pas être visibles à l'œil nu. Le logiciel est également capable de mesurer la taille des fonctionnalités, le placement et l'espacement pour s'assurer que le Réticule et la Plaquette répondent aux exigences spécifiées. Le dernier composant d'AMAT UVision 3 Masque et Wafer Inspection System est l'unité d'affichage et de contrôle. Cette unité consiste en un écran tactile, qui est utilisé pour contrôler l'unité et accéder aux données du produit. Il comprend également une caméra intégrée pour visualiser le réticule et la plaquette, et une imprimante pour que les rapports puissent être imprimés directement depuis l'unité. Dans l'ensemble, les matériaux appliqués UVision 3 Masque et Wafer Inspection Machine est un outil robuste et fiable qui a été conçu pour inspecter efficacement les réticules et les Wafers pendant le processus BEOL. Il est capable de détecter des défauts qui peuvent être indétectables à l'oeil nu, et de mesurer la taille des caractéristiques, leur emplacement et leur espacement, ce qui permet une précision et une précision constantes lorsqu'il s'agit d'inspecter les réticules et les plaquettes.