Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #293585584 à vendre en France
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ID: 293585584
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2008
Brightfield inspection system, 12"
2008 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui offre des performances exceptionnelles en matière de détection, de calibrage et de discrimination signal/bruit des défauts microscopiques. Ce système offre un meilleur débit, des rapports signal à bruit et une meilleure résolution des défauts. De plus, il offre des mesures de précision et une génération automatisée de rapports de défauts. L'unité est basée sur une plate-forme d'architecture ouverte, qui intègre plusieurs composants clés. Un grand détecteur de plan d'image est utilisé pour assurer une détection et une mesure très précises des défauts au sein de la plaquette ou du masque traité. Il dispose d'une machine d'imagerie à double balayage, combinant les techniques de transmission et d'imagerie en lumière réfléchie pour fournir des signaux de défaut cohérents et fiables avec un faible taux de fausse alarme. Ceci permet de contrôler les micro-défauts avec une lumière normale, permettant de détecter les déformations microscopiques avec un effet minimal sur l'environnement de fond. L'outil d'imagerie comprend également un atout d'éclairage avancé, qui comprend des sources de lumière UV, visible et infrarouge pour révéler correctement les caractéristiques d'un défaut. Cela permet des estimations précises de la taille et de l'emplacement. De plus, le modèle offre une phase de mise au point optimisée pour une meilleure résolution des défauts en utilisant le balayage par focalisation. L'équipement offre également un logiciel de contrôle des instruments pour fournir aux utilisateurs un moyen complet de contrôler les fonctions et l'analyse du système. Ce logiciel leur permet de configurer et d'optimiser les capacités de détection et la surveillance de l'état de l'unité. En outre, la machine offre une vaste gamme d'outils d'analyse, tels que des outils de mesure et un outil d'examen des défauts entièrement automatique, ainsi qu'un actif d'extraction et de classification des défauts. Ces caractéristiques font d'AMAT UVision 4 un outil puissant pour l'inspection des masques et des plaquettes. En fournissant des mesures précises et la génération de rapports de défauts, il assure une qualité constante assurant que les défauts sont détectés avant leur entrée en production. Il offre également des capacités d'imagerie supérieures et divers outils d'analyse, ce qui permet aux opérateurs de surveiller et de gérer facilement le processus d'inspection des masques et des plaquettes. En bref, il offre un modèle fiable et polyvalent pour la détection des défauts dans le masque et les plaquettes, ce qui en fait un outil supérieur pour l'industrie des semi-conducteurs.
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