Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #293648402 à vendre en France

ID: 293648402
Style Vintage: 2010
Brightfield inspection system 2010 vintage.
AMAT (APPLIED MATERIALS) AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de pointe. Il est conçu pour augmenter le débit, réduire la ferraille et améliorer les inspections de qualité lors des processus de production de semi-conducteurs. Le système offre des inspections automatisées, localisées, des défauts et des superpositions, ainsi que des capacités automatisées d'analyse de poste. L'unité d'inspection utilise la technologie d'imagerie la plus récente, combinant une combinaison de haute résolution, rétroéclairé, caméra couleur avec une large gamme de sources UV et de lumière visible. Cela améliore la capacité de l'appareil à détecter et à identifier les défauts, tels que les fentes, les trous d'épingle, les shorts et les vides. L'intégration de la métrologie d'imagerie avancée permet une inspection complète, facile à utiliser et précise. AMAT UVision 4 offre jusqu'à cinq fois mieux que les systèmes d'inspection traditionnels, et offre un niveau de précision et de répétabilité inégalé. La machine dispose également d'une interface utilisateur intuitive à écran tactile et de diverses options de connectivité, assurant une installation ou une mise à niveau facile. En outre, les MATÉRIAUX APPLIQUÉS UVISION 4 sont également entièrement évolutifs et configurables, ce qui permet aux utilisateurs d'adapter l'outil à leurs besoins spécifiques. UVision 4 dispose également d'une suite avancée d'algorithmes de détection et d'analyse de défauts pour garantir des performances précises et reproductibles. Ces algorithmes travaillent en tandem pour détecter une grande variété de défauts, y compris ceux liés à la fidélité des motifs lithographiques, les défauts liés aux formes irrégulières des motifs et les formes liées à la contamination de la surface. AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 est un outil puissant et efficace pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à améliorer la qualité de leurs produits, à réduire leurs débris et à augmenter leur débit. Il offre des capacités d'imagerie avancées, des inspections automatisées des défauts et des superpositions ainsi que l'analyse de post, l'évolutivité et la configurabilité, ce qui en fait un choix idéal pour un large éventail de besoins d'inspection de masques et de plaquettes.
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