Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #293665699 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 est un équipement de haute précision, de masque à cinq axes et d'inspection de plaquettes conçu pour des applications de fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de mesurer les caractéristiques géométriques, de taille et de forme ainsi que les erreurs de surface sur les plaquettes et les masques. Le système intègre une série de capteurs optiques tridimensionnels pour détecter les défauts à la fois sur la vue et en profondeur. AMAT UVision 4 est équipé d'un algorithme avancé de traitement d'image qui compare et analyse la géométrie des caractéristiques structurées, ce qui aide à la détection précoce et à la prévention des erreurs. L'unité utilise un double étage de 8 pouces par 8 pouces qui peut accueillir des plaquettes de 200 mm et 150 mm. MATÉRIAUX APPLIQUÉS UVISION 4 est équipée de deux luminaires à champ lumineux de classe 2 qui permettent d'identifier facilement de petits défauts et caractéristiques. De plus, sa technologie de mise en scène active permet un balayage précis des surfaces complètes et partielles. Cela garantit que les défauts potentiels sont repérés tôt, ce qui permet d'améliorer le rendement des plaquettes et des masques. Pour garantir la précision et la fiabilité des résultats, la machine est équipée d'un logiciel d'extraction automatisé intégré. Ce logiciel extrait et examine automatiquement les caractéristiques telles que les ponts, les tranchées et les marques fiduciaires pour en déterminer les dimensions et l'emplacement. Le logiciel automatisé est également capable d'analyser les bords, les formes de bout de ligne et les ouvertures/fermetures. Il est également équipé d'algorithmes anti-aliasing et jittering qui aident à améliorer la résolution et le contraste. UVision 4 est conçu pour être utilisé avec une variété de technologies d'imagerie numérique telles que le microscope électronique à balayage (SEM), le microscope électronique à transmission (TEM) et l'imagerie laser. Il utilise également différentes technologies d'éclairage et d'exposition telles que l'éclairage ponctuel, l'éclairage par inondation et l'éclairage pulsé. L'outil est également capable de détecter des fonctionnalités complexes à l'aide d'algorithmes avancés de reconnaissance et d'appariement de motifs. Cet atout multifonctionnel permet de réduire considérablement le temps et les efforts nécessaires à l'inspection des plaquettes et des masques lors de la fabrication des semi-conducteurs. Il offre un débit accru et des performances stables tout en offrant une précision et une précision accrues pour détecter et mesurer les défauts au niveau du nanomètre. AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 peut également contribuer à augmenter le rendement grâce à l'identification complète des défauts et à la vérification des règles de conception.