Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9222757 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 Equipment est un puissant système automatisé d'inspection des masques et des plaquettes à haut débit utilisé principalement dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. L'unité est conçue pour détecter rapidement et avec précision tout défaut de fabrication dans la plaquette exposée qui pourrait entraîner des problèmes de performance dans le dispositif fabriqué. AMAT UVision 4 fonctionne par une série de processus automatisés et d'algorithmes avancés. La série commence par la lumière incidente, telle qu'UVLED ou laser, dirigée sur une plaquette sur l'étage de l'échantillon. La lumière incidente rebondit sur la surface de la plaquette et est analysée pour détecter toute aberration ou déviation dans la configuration attendue de la surface. Les images réfléchissantes sont ensuite capturées et numérisées. Ces informations numérisées sont ensuite comparées à une bibliothèque de données attendues qui a été chargée dans la machine APPLIED MATERIALS UVISION 4. Les éventuelles irrégularités seront détectées, puis un signal électronique sera envoyé, mettant en évidence les éventuelles divergences sur un affichage visuel. Les données collectées par UVision 4 sont ensuite utilisées pour générer un rapport analysable. Le détail et l'exactitude du rapport sont inégalés dans ce secteur. Le rapport contient une comparaison entre les formes de surface attendues et réelles, l'analyse des non-uniformités dans les motifs de film de résistance et l'évaluation de la rugosité des bords de ligne. La rapidité et la précision d'AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 permet une évaluation rapide et fiable des masques et plaquettes pendant le processus de fabrication. Il élimine le besoin d'inspection manuelle et peut détecter les défauts de fabrication qui autrement ne seraient pas détectés par d'autres solutions manuelles. L'outil AMAT UVision 4 est également hautement personnalisable. Il a la capacité de détecter une large gamme de longueurs d'onde et de scanner divers substrats tels que l'aluminium, le cuivre et le quartz. En outre, les utilisateurs peuvent modifier ou supprimer les algorithmes d'inspection existants et créer des algorithmes personnalisés en fonction de leur application spécifique. L'actif est également équipé d'une caméra CCD haute résolution et de détecteurs sélectables de source de faisceau pour estimer la rugosité des bords de ligne. De plus, il a la capacité de faciliter simultanément l'analyse multi-sites des plaquettes. Cela garantit que les données recueillies sont représentatives et exactes. Au total, APPLIED MATERIALS UVision 4 Model est un équipement avancé et puissant d'inspection des masques et des plaquettes qui permet une évaluation complète des masques et des plaquettes pendant le processus de fabrication des semi-conducteurs. En conséquence, tout défaut de fabrication peut être détecté rapidement et avec précision, ce qui conduit à un rendement amélioré et à des coûts réduits.