Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9293623 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS L'équipement UVISION 4 Masque et Wafer Inspection fournit une solution complète leader dans l'industrie pour l'identification et la caractérisation des défauts. Le système offre une inspection rapide des photomasques et des plaquettes grâce à l'utilisation de la technologie avancée de détection laser ultraviolet (UV) de haute puissance. Avec la capacité de détecter et caractériser les défauts jusqu'à 5 μ m et la capacité de détecter les défauts de grappe, AMAT UVision 4 permet l'identification la plus complète et la plus précise des défauts. MATÉRIAUX APPLIQUÉS UVISION 4 a été développée pour fournir les inspections de plaquettes et de photomasques les plus efficaces et les plus fiables. En présentant un scanner de fente à laser à haute résolution et un champ de vue (FOV), l'unité permet aux utilisateurs à vite et inspectez exactement le plus difficile pour découvrir des défauts d'au-dessous du 5 niveau μm. De plus, le traitement avancé du raster laser d'UVision 4 permet une sensibilité inégalée et une couverture uniforme avec une intensification constante de l'image. AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 offre également une excellente capacité de caractérisation des défauts. Grâce à la combinaison d'algorithmes de détection spécifiques au laser et de traitement d'image numérique puissant, la machine est en mesure de caractériser avec précision les défauts en 2 dimensions et en 3 dimensions sur la plaquette et la photomasque. Avec la capacité de distinguer le type de caractéristique, la densité d'impression et la topographie de surface du défaut, l'outil fournit une précision de caractérisation inégalée. En plus de la caractérisation des défauts, AMAT UVision 4 propose une suite logicielle puissante conçue pour gérer et présenter les données de l'actif. Les fonctionnalités logicielles avancées telles que le rapprochement automatique des défauts, le regroupement des défauts, les retours de type de défaut, les statistiques adaptatives automatiques et la segmentation des cartes en vrac permettent aux utilisateurs d'analyser rapidement les résultats des inspections et d'identifier les sources potentielles de problèmes de qualité. MATÉRIAUX APPLIQUÉS UVISION 4 Masque et Wafer Inspection modèle est une solution leader de l'industrie pour identifier et caractériser des défauts allant de 5 μ m et plus bas. Grâce à la détection laser haute résolution et au traitement d'image numérique puissant, UVision 4 peut détecter et caractériser avec précision les défauts en 2 dimensions et en 3 dimensions sur la plaquette et la photomasque. Avec la capacité de reconnaître le type de défaut, la densité d'impression et la topographie de surface, les utilisateurs peuvent s'assurer que le produit de la plus haute qualité est fabriqué. L'équipement est également soutenu par un logiciel d'imagerie puissant, conçu pour aider les utilisateurs à analyser rapidement les résultats des inspections et à identifier les sources de tout problème de qualité.