Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9378708 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 4 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est utilisé pour identifier les défauts dans les masques et les plaquettes, permettant une meilleure performance des puces et des taux de rendement plus élevés pour les fabricants. AMAT UVision 4 est basé sur une plate-forme entièrement automatisée de 6 pouces, offrant une inspection rapide et précise des plaquettes. Une inspection visuelle détaillée est disponible jusqu'à 1,5 microns avec une fonction de métrologie automatisée pour masques et plaquettes semi-conducteurs. Il est équipé d'un éclairage réglable qui offre un contraste maximal pour la reconnaissance des défauts. Doté d'une interface utilisateur intuitive, le système est conçu pour être très convivial et intuitif. Il soutient également le développement d'algorithmes personnalisés pour la réduction des défauts. MATÉRIAUX APPLIQUÉS UVISION 4 est intégrée avec un module de caméra WaferLCI + haute résolution et un processeur puissant capable de l'IA. Cela permet à l'unité de délivrer une résolution d'image jusqu'à 100 um/pixel avec une profondeur de mise au point accrue. Cela permet, à son tour, une classification précise des défauts et une analyse efficace des échantillons. UVision 4 offre des avantages significatifs à l'industrie des semi-conducteurs. Les images interprétables sont générées lors de l'inspection de la plaquette qui peut aider à identifier l'exposition de lithographie incorrecte, tandis que les fausses alarmes sont identifiées et supprimées avec l'algorithme LUCenter de la machine. En outre, l'outil exécute l'identification des défauts assistée par la reconnaissance des motifs, qui offre une plus grande précision et moins de fausses alarmes. De plus, la fonction d'optimisation du flux de travail SmartStation d'AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 permet d'augmenter le débit. Son examen des défauts en temps réel assure une surveillance et un contrôle efficaces des processus. Dans le même temps, la capacité d'exportation de données est également fournie par le logiciel WaferTrace. Dans l'ensemble, AMAT UVision 4 est un outil avancé d'inspection des masques et des plaquettes qui fournit une détection fiable des défauts pour les fabricants de semi-conducteurs modernes. Il est livré avec des caractéristiques puissantes pour améliorer l'efficacité et la précision, tandis que sa conception conviviale en fait un choix attrayant pour tout fabricant de semi-conducteurs.