Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 5 #9390690 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 5 est un équipement révolutionnaire d'inspection de masque et de plaquettes qui a été conçu pour offrir des performances, une précision et une fiabilité supérieures dans les processus d'isolation des défauts de semi-conducteurs, d'optimisation des processus et de gestion des rendements. Le système comprend une unité automatisée de microscopie optique mobile intégrée configurable (MOM), fournissant un bord de performance pour la surveillance des processus, l'isolation des défauts et l'amélioration des rendements. La machine est sensible aux dimensions des défauts de 5 nm et fournit des mesures en temps réel des défauts imprimés et des largeurs de ligne, assurant un contrôle de processus supérieur pour produire une géométrie de composants ultra-fine, des largeurs de lignes de tolérance serrées et la détection des défauts. La conception au microscope optique d'AMAT UVision 5 consiste en un microscope optique mobile breveté (MOM) sur un étage XYZ, ce qui conduit à une inspection bidimensionnelle intégrée automatisée (2D) et à un réglage automatique de focalisation, selon l'application. L'instrument intègre également une technique brevetée d'auto-alignement, fournissant la plus grande clarté, ainsi que la précision de l'enregistrement des plaquettes. Cela permet d'éviter le désalignement des fonctions d'inspection avant et arrière. Pendant le fonctionnement, la plate-forme place une plaquette sur le dessus d'une fenêtre MOM, et la MAMM se déplace à travers et autour de la plaquette à haute vitesse. Un outil d'imagerie travaille en collaboration avec la MOM et produit des images très détaillées et améliorées qui sont ensuite étudiées ou comparées à la bibliothèque de bonnes ou de mauvaises conceptions connues. MATÉRIAUX APPLIQUÉS UVISION 5 offre un débit rapide et peut être exploité dans un environnement autonome, permettant aux utilisateurs de réduire le temps de dépannage co-site et d'optimiser le protocole de gestion du rendement. Une capacité de mesure étendue et des mesures submicroniques, jusqu'à 5 microns, offrent des capacités exceptionnelles pour l'optimisation des processus. Enfin, la reconnaissance et l'examen des défauts très perfectionnés réduisent au minimum les efforts manuels et simplifient davantage le processus d'analyse. UVision 5 offre une polyvalence, une précision et une fiabilité supérieures pour l'isolation des défauts de semi-conducteurs, l'optimisation des processus et la gestion des rendements. La plus grande clarté des images et la précision de l'enregistrement des plaquettes garantissent un traitement efficace des caractéristiques et des motifs de conception, ce qui donne un résultat final satisfaisant. Ainsi, AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 5 est le modèle idéal d'inspection des masques et plaquettes pour répondre aux défis les plus exigeants de l'industrie des semi-conducteurs haut de gamme.