Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #293665711 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS UVISION 7 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs avancés. Il est équipé d'un système de microscopie optique compacte (COM) pour fournir des images à plus haute résolution des motifs de la plaquette et du masque pour une inspection précise. Il est conçu pour inspecter et vérifier avec précision les défauts et les variations minimes pour un large éventail de matériaux et d'applications. L'unité est composée de trois composants principaux : la machine d'éclairage, l'outil d'optique et de capture d'image, et l'outil d'imagerie et de contrôle. Le modèle d'éclairage est chargé de répartir uniformément la lumière UV ou visible de haute intensité uniforme sur l'ensemble de la plaquette ou du masque, ce qui est nécessaire pour capturer avec précision les structures et les motifs sur la plaquette/masque. L'équipement d'optique et de capture d'image est composé d'une caméra CCD et de l'optique, qui capture l'image du motif wafer/masque. Le système d'imagerie et de contrôle permet aux utilisateurs de contrôler l'exposition de l'image, le foyer de l'image et la résolution, l'intensité et la plage spectrale de l'image. AMAT UVision 7 est conçu avec un haut niveau de précision et de précision à l'esprit, et peut inspecter des appareils de dimensions aussi petites que 0,02 microns. Il contient également des systèmes d'alignement multicouches pour enregistrer avec précision les résultats d'inspection avec chaque structure d'appareil. L'unité est également équipée d'algorithmes automatisés de détection des défauts qui peuvent détecter avec précision les défauts, les contaminants et les zones non fonctionnelles du motif. En outre, APPLIED MATERIALS UVISION 7 est compatible avec une variété de formats de mise en page et dispose d'une interface conviviale qui permet une manipulation facile de la machine. Dans l'ensemble, UVision 7 est un outil puissant et polyvalent d'inspection de masque et de plaquettes qui est conçu pour fournir des inspections rapides et précises pour les dispositifs semi-conducteurs de pratiquement n'importe quelle taille ou complexité. Il est construit avec des systèmes d'imagerie et de capture avancés, des systèmes de contrôle complets et des systèmes automatisés de détection et d'enregistrement des défauts pour s'assurer que les images de haute qualité sont capturées avec précision et des inspections très précises sont effectuées.