ASM (Inspection des masques et des wafers) d'occasion à vendre

ASM est l'un des principaux fabricants d'équipements de production de semi-conducteurs de pointe, y compris les équipements d'inspection des masques et des plaquettes. Ces systèmes sont conçus pour assurer la qualité et la précision des masques et plaquettes utilisés dans les procédés de fabrication des semi-conducteurs. ASM propose une gamme d'unités d'inspection de masques et de plaquettes, y compris les IBE 139, TIB 139 et IBE 139H. L'IBE 139 est un système avancé d'inspection de masque qui utilise la technologie avancée des analogues. Il offre des capacités d'imagerie haute résolution, permettant une inspection précise et fiable des masques. Le TIB 139 est un système d'inspection de plaquettes dédié qui utilise également la technologie des analogues. Il est équipé de caractéristiques innovantes qui permettent une inspection rapide des plaquettes, assurant la détection d'éventuels défauts ou anomalies. L'IBE 139H est un système hybride qui combine les fonctionnalités d'inspection des masques et des plaquettes, offrant une solution complète pour les fabricants de semi-conducteurs. Les avantages des appareils d'inspection des masques et des plaquettes ASM résident dans leur grande précision, leur vitesse et leur polyvalence. Ces outils offrent une qualité d'imagerie exceptionnelle, permettant de détecter même les plus petits défauts ou défauts sur des conceptions de masques complexes. En outre, ils offrent des capacités d'inspection rapides, permettant un débit élevé et une productivité accrue. Les moyens d'inspection des masques et plaquettes d'ASM sont également très flexibles, supportant différentes tailles de plaquettes et répondant aux différentes exigences des clients. En résumé, les modèles d'inspection des masques et des plaquettes ASM, comme les modèles IBE 139, TIB 139 et IBE 139H, fournissent aux fabricants de semi-conducteurs des outils avancés pour un contrôle de qualité supérieur. Ces équipements offrent une imagerie haute résolution, des vitesses d'inspection rapides et de la flexibilité, assurant la production efficace et précise des masques et des plaquettes dans les processus de fabrication des semi-conducteurs.