Occasion BIO-RAD Quaestor Q7 #9240605 à vendre en France

BIO-RAD Quaestor Q7 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour répondre aux besoins des fabricants de semi-conducteurs et des laboratoires de recherche pour l'analyse d'image haute résolution et la caractérisation des défauts. Le système offre une imagerie haute vitesse et l'analyse d'images de grandes zones de la plaquette avec optique flexible, permettant l'analyse détaillée et la caractérisation de petites caractéristiques topographiques comme les motifs de photolithographie, les surplombs et les détails de surface. Son étage mécanique et son étage de balayage assurent un positionnement précis des plaquettes et un alignement précis pour l'imagerie de grande surface. L'unité d'inspection Q 7 de BIO-RAD QUAESTOR est capable de détecter plusieurs types de défauts tels que les électrodes, les plots, la longueur de ligne et d'autres caractéristiques. Il dispose de trois sources lumineuses pour des applications d'imagerie telles que les mesures de surface des plaquettes, l'acquisition d'images et l'analyse d'images, et l'inspection. La machine est équipée d'un détecteur CMOS haute résolution de 5,5 mp et d'une vitesse d'acquisition et de traitement d'images ultra-rapide. L'outil Q7 dispose d'un puissant logiciel d'analyse d'image et de recherche de données pour identifier rapidement et précisément les modèles et les défauts. Le support d'outillage automatisé permet à l'utilisateur d'identifier, d'isoler et de caractériser les motifs d'image et les défauts. De plus, les outils avancés d'analyse de surface réduisent considérablement le temps nécessaire pour analyser les données provenant de l'analyse de la mesure précise des paramètres de la ligne, de la mesure des défauts et des profils et de l'extraction de données. L'atout est facile à utiliser et offre une interface graphique intuitive avec une variété d'applications telles que la détection des défauts, la reconnaissance des motifs et la caractérisation des défauts. Une bibliothèque complète de paramètres de surface commune simplifie l'analyse des images. De plus, un scanner à code-barres permet une association rapide avec les détails de la plaquette tels que l'ID du lot et la taille du lot. Au total, le masque Quaestor Q7 et le modèle d'inspection des plaquettes sont un outil complet pour l'inspection des semi-conducteurs. Il offre une imagerie et une analyse d'image à grande vitesse, permettant une caractérisation précise de petites caractéristiques topographiques. Le puissant logiciel d'extraction de données et d'analyse d'images de l'équipement assure une détection et une caractérisation rapides et précises des défauts. Il dispose d'interfaces utilisateur intuitives et d'une optique flexible, améliorant encore les performances du système.