Occasion BROWN & SHARPE MicroVal 343 #9022258 à vendre en France

BROWN&SHARPE MicroVal 343 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes très avancé. Il est conçu pour l'assurance qualité et l'inspection de précision des plaquettes semi-conductrices, des masques et des composants connexes. Le système utilise une caméra vidéo numérique CCD de pointe et une unité d'analyse d'image avancée pour cerner avec précision les écarts et les imperfections dans les surfaces des plaquettes, les défauts de masque et d'autres caractéristiques critiques du processus. MicroVal 343 est capable de grossissements allant jusqu'à 300x, permettant aux utilisateurs de détecter même les plus petites anomalies. BROWN&SHARPE MicroVal 343 est conçu pour une utilisation facile et la flexibilité. Une interface d'écran tactile conviviale avec des menus contextuels simplifie le processus de configuration et d'inspection. La machine peut être configurée pour un fonctionnement automatisé ou manuel. En mode manuel, un curseur croisé aide à repérer les positions exactes sur la plaquette pour inspection. MicroVal 343 dispose également d'une multitude de paramètres programmables tels que l'agrandissement et le contraste de l'affichage, les capacités de mesure, les modes de filtrage des couleurs, les algorithmes d'amélioration d'image et une bibliothèque de critères de défaut prédéfinis. En outre, l'outil est livré avec plusieurs outils logiciels sophistiqués pour aider les processus d'assurance de la qualité et de rapport, tels que l'analyse du rendement, le tracé, le marquage et l'archivage. Les logiciels de BROWN et SHARPE MicroVal 343 sont compatibles avec Windows et Linux. De plus, un certain nombre d'accessoires spécialisés, tels que les étapes d'inspection automatique du masque, sont disponibles. Tout cela rend l'actif idéal pour une utilisation dans le traitement des semi-conducteurs, la fabrication des puces et d'autres applications critiques. Dans l'ensemble, MicroVal 343 est un modèle d'inspection très sophistiqué, mais convivial, capable de détecter avec précision les plus petites anomalies des plaquettes semi-conductrices, des masques et des composants connexes. Sa capacité et sa flexibilité en font un outil idéal pour l'assurance qualité et l'inspection de précision.