Occasion BROWN & SHARPE MicroVal 343 #9140610 à vendre en France

BROWN&SHARPE MicroVal 343 Masque et Wafer Inspection Equipment est une solution complète pour l'inspection de précision, la validation et l'analyse de composants semi-conducteurs complexes. Ce système d'inspection utilise des techniques photo-lithographiques avancées pour fournir des images bidimensionnelles et tridimensionnelles précises de minuscules caractéristiques avec une grande sensibilité. MicroVal 343 unité est capable d'inspecter à la fois masque et wafer échantillons de diverses géométries complexes avec des résolutions allant jusqu'à 0,25 um. L'outil d'imagerie optique de la machine se compose d'une caméra CCD panoramique haute résolution et d'une source lumineuse LED de précision. Cela garantit que toutes les caractéristiques, y compris les motifs photorésistants, les profils de caractéristiques et les cavités peuvent être mesurées avec une grande précision. Le logiciel de l'actif permet à l'utilisateur de capturer des images qui peuvent être analysées de diverses façons. Par exemple, le logiciel peut détecter et identifier des motifs, tout en fournissant des mesures précises de toute caractéristique donnée de l'échantillon. De plus, des outils logiciels tels que la détection de bord, l'OCR et les fonctions de comparaison permettent à l'utilisateur de comparer différentes plaquettes pour les différences dans leurs structures et caractéristiques. Le modèle dispose également d'un mode d'alignement automatique qui garantit que tous les échantillons sont testés avec précision et stabilité, et permet même de redimensionner et de faire tourner l'image de l'échantillon afin d'être correctement confocal à l'équipement optique. De plus, le système MicroVal 343 de BROWN&SHARPE a la capacité de détecter des caractéristiques jusqu'à 200um dans la taille, et avec sa configuration de sources lumineuses multiples, il peut examiner les fonctionnalités dans les modes de réflexion et de transmission. Dans l'ensemble, l'unité MicroVal 343 Masque et Wafer Inspection offre aux clients un outil précis et fiable pour inspecter, valider et analyser des composants semi-conducteurs complexes. En utilisant des techniques photo-lithographiques avancées pour fournir des images bidimensionnelles et tridimensionnelles précises de petites caractéristiques avec une grande sensibilité, cette machine a fourni un service précieux dans l'industrie des semi-conducteurs.