Occasion BROWN & SHARPE MicroXcel PFX 765 #293604356 à vendre en France

BROWN & SHARPE MicroXcel PFX 765
ID: 293604356
Coordinate measuring machine.
Le MicroXcel PFX 765 de BROWN&SHARPE est un système de haute technologie, de masque automatisé et d'inspection des plaquettes conçu spécifiquement pour l'industrie des semi-conducteurs. Il est capable d'effectuer des contrôles de qualité automatisés sur les photomasques et les plaquettes. MicroXcel PFX 765 fournit des mesures exceptionnellement précises et à haute résolution qui garantissent la précision et la répétabilité. BROWN&SHARPE MicroXcel PFX 765 utilise les dernières technologies d'inspection telles que la gestion des couleurs, l'amélioration de l'image et le rétrécissement des lignes. Il dispose également d'un système breveté d'auto-alignement, qui permet d'assurer un positionnement précis et reproductible, ainsi que d'un capteur numérique de microscopie 10X unique, permettant une imagerie amplifiée des surfaces de la plaquette et des photomasques. Les performances d'inspection sont encore améliorées par les capacités de traitement avancées du MicroXcel PFX 765. Des algorithmes puissants détectent et différencient les défauts de contraste élevés et faibles, avec une résolution de 0,10 μ m. Le MicroXcel PFX 765 de BROWN&SHARPE offre également un traitement rapide des données et un stockage des résultats, ainsi qu'une accessibilité aux programmes d'analyse et de production de rapports. Le MicroXcel PFX 765 est hautement personnalisable et permet aux utilisateurs de configurer le système en fonction de leurs besoins spécifiques en matière de contrôle de qualité. Des mises à niveau logicielles et matérielles sont disponibles pour répondre aux exigences des différents processus d'inspection et aux exigences différentes de chaque application. De plus, les graphiques conviviaux offrent une interface facile à utiliser pour une navigation facile et une évaluation fiable des résultats. Le MicroXcel PFX 765 de BROWN&SHARPE est un moyen incroyablement robuste, fiable et efficace d'effectuer des inspections de contrôle de la qualité pour divers procédés et applications de semi-conducteurs. Son imagerie avancée et son jeu de fonctionnalités puissant en font une combinaison parfaite pour les besoins critiques de masque et d'inspection des plaquettes.
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