Occasion BROWN & SHARPE Xcel 7-10-7 #293806934 à vendre en France

BROWN&SHARPE Xcel 7-10-7 Masque et Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection avancé utilisé pour détecter les défauts des wafers et masques à semi-conducteurs. L'unité est conçue pour analyser simultanément plusieurs images de plaquettes et de masques, en travaillant avec des techniques de reconnaissance de motifs pour détecter divers types de défauts. La machine est conçue pour aider à réduire le coût de l'inspection des plaquettes et des masques, en éliminant une partie de l'erreur potentielle d'inspection humaine. L'outil utilise une caméra CCD pour numériser jusqu'à 1000 champs par masque/plaquette, tandis que le logiciel aide à acquérir des images et à détecter les défauts. L'actif peut alors comparer les résultats de l'inspection à une attente prédéterminée de la surface traitée de la plaquette ou du masque. Pour chaque plaquette ou masque scanné, le modèle affiche une image dans un format facile à interpréter. Xcel 7-10-7 Masque et Wafer Inspection Equipment permet jusqu'à sept différents modèles de recherche masque/wafer. Il est capable de détecter des particules, de petites caractéristiques et d'autres défauts aussi petits qu'un micron carré avec une précision de 0,00078 pouce. Il est également capable de détecter des imperfections mineures dans la croissance cristalline le long du bord de chaque plaquette. Le système permet aux utilisateurs d'utiliser des méthodes et des outils de contrôle des processus statistiques pour analyser les données asymétriques, ce qui leur permet d'identifier et de corriger les défauts en temps opportun. Il supporte également la superposition de texte de données critiques pour chaque masque testé. BROWN&SHARPE Xcel 7-10-7 comprend un support complet du produit et de l'unité pour assurer la performance la plus efficace possible. Xcel 7-10-7 Masque et Wafer Inspection Machine est un outil important pour les lignes de production qui nécessitent une haute précision et un contrôle de qualité. Il est capable de détecter rapidement et efficacement les défauts mineurs, contribuant à réduire les coûts et à améliorer le rendement du produit. Il donne également aux fabricants l'assurance que leurs produits répondront aux normes les plus élevées. Dans l'ensemble, l'outil est un moyen rapide et économique pour les fabricants d'inspecter rapidement et avec précision les plaquettes et les masques à semi-conducteurs.