Occasion BROWN & SHARPE Xcel 9-15-9 #9177715 à vendre en France

ID: 9177715
Style Vintage: 2000
DCC Coordinate measuring machine Measuring range: X-Axis: 35.4” Y-Axis: 59.1” Z-Axis: 35.4” Distance between posts: 43” Distance under rail: 35” Black granite table: 51” x 86.5” x 8” Software: PC-DMIS Joy stick controls Renishaw PH-10MQ probe Renishaw SCR-200 6-Position stylus changing rack Renishaw maps 6-Position probe stand 2000 vintage.
LeBROWN & SHARPE BROWN&SHARPE Xcel 9-15-9 est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de pointe pour assurer l'uniformité et la précision aux normes les plus élevées. Son système de projection laser de 15 pouces est conçu pour affiner le processus d'inspection avec une précision inégalée, la traçabilité et la répétabilité des caractéristiques de défaut. L'unité offre une clarté d'image et une précision de mesure inégalées, avec 99,9 % de répétabilité, plus 1 micron de résolution. Projeter des calculs de coins ovales, ronds et vifs, ainsi que des mesures de ligne et de bord, de sorte que les variables de l'opérateur sont éliminées. La machine comprend deux outils de comparaison optique automatisés de classe supérieure : le Xcel Wafer Mapping Tool et le Xcel Wafer Mask Inspector. L'outil de cartographie Wafer est capable de mesurer les plaquettes masquées et non masquées. Utilisant une technologie avancée de « détection de position de faisceau » par rapport à la technologie traditionnelle de « reconnaissance de motif », il assure l'analyse et la comparaison les plus précises des caractéristiques des plaquettes. L'Inspecteur du masque de Wafer évalue les patrons de matériaux opaques et transparents tout en fournissant des informations extrêmement précises sur les patrons de masque et de wafer afin de détecter les défauts. Il dispose également d'un outil d'imagerie haute performance avec la technologie de reconnaissance optique des caractères pour la numérisation rapide et la comparaison des plans de motifs de masque. Xcel 9-15-9 intègre avec SEMI M1-1010 : Mask-Wafer Overlay Programme de mesure standard pour l'inspection des différences entre la conception et la fabrication des plaquettes et des masques. En outre, le modèle offre plusieurs logiciels pour améliorer la gestion et l'analyse des données de masque et de wafer. TheXcel Mask Design Interfaceallows utilisateurs à télécharger un fichier de conception puis créer un plan de masque, qui peut être vérifié contre un masque existant et visualisé en 3D avant la fabrication. TheXcel Feature Extraction Outils de détection automatisée des caractéristiques, géométries et dimensions, ainsi que la cartographie des masques et des plaquettes pour identifier les modèles et la distance relative. Il permet aux utilisateurs de comparer plusieurs plaquettes simultanément afin de mesurer les caractéristiques avec une plus grande précision. Le BROWN&SHARPE BROWN&SHARPE Xcel 9-15-9 est un outil inestimable pour chaque entreprise de fabrication de semi-conducteurs. Sa combinaison d'outils de comparaison optique automatisés, de matériel d'imagerie haute performance et de logiciels fournit une précision de pointe pour la production sans problème.
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