Occasion CRYSTAL 4095-1E #9392980 à vendre en France

CRYSTAL 4095-1E est un équipement complet d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'imagerie automatisée de haute vitesse et de haute qualité. Le système dispose d'un bac d'inspection motorisé, d'un module de processus de plaquettes in situ et d'une suite logicielle puissante pour permettre une inspection complète précise et détaillée des masques et des plaquettes de semi-conducteurs. Le bac d'inspection motorisé utilise une caméra haute résolution pour capturer les images de la plaquette, tandis que le module de processus de la plaquette in-situ facilite les algorithmes d'inspection avancés. Le bac, qui est monté sur une unité de jauge de précision et un plancher à faible vibration, est capable d'accéder à plusieurs points focaux sur le masque ou la plaquette. Cette machine intelligente permet de traiter la plaquette avec précision tout en offrant un grand angle de vision. La suite logicielle intégrée à l'outil permet une analyse rapide et précise de l'image. La suite est conçue pour détecter les réticules, défauts, particules, rayures et autres irrégularités visuelles sur les masques et les plaquettes. La suite effectue de nombreuses opérations simultanées, y compris la reconnaissance de motifs, la classification, la détection et la segmentation d'image. Il offre également des rapports avancés, ainsi que des signalements post-inspection. L'actif dispose d'une source lumineuse d'inspection de prochaine génération en option pour réduire la taille des particules jusqu'à 0,3 microns. Ceci garantit une résolution et une précision optimales lors de l'inspection des petites caractéristiques et des défauts microscopiques. Le modèle intègre également des algorithmes intelligents d'éclairage et d'imagerie pour fournir une imagerie de wafer de haute précision, ainsi qu'une reconnaissance automatique des motifs pour la reconnaissance rapide et précise des défauts. L'équipement a été conçu pour une flexibilité optimale, permettant une intégration facile avec les lignes de processus de fabrication existantes. Il est également livré avec une vaste bibliothèque d'images de test standard et de modèles de défauts, permettant aux utilisateurs d'évaluer rapidement plusieurs variations de motifs simultanément. Dans l'ensemble, 4095-1E offre des capacités complètes d'inspection de masque et de plaquettes à un prix rentable. Le puissant logiciel d'imagerie, le contrôle avancé du mouvement, l'optique haute résolution et l'éclairage intelligent garantissent un haut niveau de précision et de fiabilité. Il bénéficie également d'une conception et d'une construction robustes, ce qui le rend idéal pour une utilisation dans des environnements de fabrication de semi-conducteurs à haut volume.