Occasion CRYSTAL 4095-1E #9392981 à vendre en France

CRYSTAL 4095-1E est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes fabriqué par JEOL, un fournisseur leader de produits et de services avancés de microscopie électronique. 4095-1E est conçu pour répondre aux besoins des applications d'inspection les plus exigeantes en combinant les derniers microscopes à balayage électronique (SEM) et à force atomique (AFM). CRYSTAL 4095-1E dispose d'un puissant microscope électronique à balayage pour la détection des défauts de sous-microns sur les grandes plaquettes de circuit. Avec son micropositionneur à trois axes, le système offre des mesures de haute précision au plus haut niveau de précision. L'unité comprend également une machine d'acquisition d'images haute résolution avec mise au point dynamique automatique pour une meilleure identification des défauts. De plus, le microscope à force atomique avancé 4095-1E permet de détecter les défauts à l'échelle nanométrique sur des plaquettes hors de portée de SEM. L'outil comprend un atout d'imagerie haute résolution et un logiciel de couture automatique pour permettre une acquisition plus rapide des données et une meilleure détection des défauts. CRYSTAL 4095-1E offre également une source de lumière au microscope haute performance pour l'imagerie à haut contraste et la résolution avancée. Il comprend un logiciel de vision de modèle propriétaire pour la détection automatisée des défauts basée sur des motifs. Le logiciel a été soigneusement calibré pour détecter l'adhérence, la rugosité et d'autres défauts résultant de la fabrication de structures complexes. En outre, l'équipement s'intègre à un système de traitement d'image externe pour améliorer la qualité d'image et la facilité d'utilisation. L'écran tactile intuitif de l'appareil permet aux utilisateurs d'ajuster facilement les paramètres de la machine et d'effectuer l'analyse des données rapidement et efficacement. 4095-1E fournit un outil puissant et polyvalent pour effectuer l'inspection des masques et des plaquettes. Grâce à ses microscopes électroniques à balayage avancé et à force atomique, à ses systèmes d'imagerie haute résolution et à ses logiciels sophistiqués, CRYSTAL 4095-1E est conçu pour répondre aux applications les plus exigeantes d'inspection des masques et des plaquettes.