Occasion DATAPHYSICS ACA 50 #9123550 à vendre en France

DATAPYSICS ACA 50 est un puissant équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour être utilisé dans les fabriques de semi-conducteurs. Il fournit des mesures précises des défauts et de la topographie des défauts et de la contamination à base de plaquettes. Il est capable de détecter des défauts de longueur d'onde inférieure ou égale à 0,07 µm, permettant une imagerie et une analyse à haute résolution. Le système dispose d'une technologie de contraste adaptatif en attente de brevet, qui module la luminosité et le contraste de l'image pour de meilleurs résultats d'inspection. Ceci est important lors de l'inspection des défauts et de la contamination sensibles au processus et est particulièrement utile pour les dispositifs à disposition complexe. L'unité utilise une source de lumière infrarouge, qui est précise et sûre. Il dispose également d'une machine d'analyse d'imagerie multispectrale avancée, qui permet l'acquisition simultanée de données d'image avec plusieurs filtres. Cela garantit des résultats précis et reproductibles, même avec différents types d'échantillons et substrats. ACA 50 dispose d'une interface utilisateur conviviale qui le rend facile à configurer et à utiliser. Il comprend également une variété de fonctionnalités avancées pour améliorer l'efficacité et la précision des tâches d'inspection, y compris l'enregistrement automatisé des plaquettes, la compensation des antécédents, l'échelle des défauts, la couture des images, l'optimisation des images et l'alignement des étages. L'outil dispose d'une étape intégrée pour la manipulation automatisée des échantillons. Il est équipé d'un étage mécanique X-Y motorisé et supporte une taille d'échantillon maximale de 6 « x6 ». L'étage est équipé d'une technologie exclusive pour assurer un positionnement et un alignement précis de l'échantillon pour une inspection efficace. L'actif est intégré à une bibliothèque d'outils logiciels développés sur mesure pour aider à réduire le temps d'inspection et à améliorer la précision. Ces outils comprennent un outil de suivi des défauts, un module de prétraitement des images et un module d'analyse au niveau des plaquettes. Il comprend également un modèle de classement des défauts basé sur l'interface graphique et une base de données intégrée d'analyse des défauts qui stocke et organise toutes les données d'inspection. DATAPYSICS ACA 50 est conçu pour offrir un processus rapide, précis et reproductible d'inspection automatique des plaquettes et des masques. En fournissant aux utilisateurs des capacités d'analyse complètes et une automatisation efficace, l'équipement contribue à réduire les coûts globaux et à améliorer le rendement.