DCG SYSTEMS / CREDENCE (Inspection des masques et des wafers) d'occasion à vendre

DCG Equipment, filiale de CREDENCE, est l'un des principaux fabricants de systèmes avancés d'inspection des masques et des plaquettes pour l'industrie des semi-conducteurs. Leurs offres de produits comprennent EmiScope III, EmiScope I, EmiScope IIIT, et d'autres. Les unités d'inspection EmiScope sont conçues pour fournir une imagerie haute résolution et une détection précise des défauts. Ces machines utilisent la technologie avancée de microscopie électronique à balayage (SEM) pour identifier les défauts sur les masques et les plaquettes à différents stades des processus de fabrication. L'un des principaux avantages des actifs d'inspection de DCG Tools est leur capacité à détecter les défauts de particules et de motifs avec une grande sensibilité et précision. Ils offrent aux utilisateurs une solution complète pour la détection et l'analyse des défauts, contribuant à assurer la production de dispositifs semi-conducteurs de haute qualité. L'EmiScope III, par exemple, est un système entièrement automatisé d'inspection des masques qui peut gérer différents types de masques, y compris les masques EUV. Il offre un débit rapide et une imagerie haute résolution, permettant une identification et une classification fiables des défauts. L'EmiScope I, quant à lui, est un système manuel d'inspection de masque adapté aux applications de production et de recherche à faible volume. Il offre aux utilisateurs une flexibilité et une facilité d'utilisation tout en maintenant des capacités d'imagerie de haute qualité. L'EmiScope IIIT est un système d'inspection des plaquettes haute performance conçu pour la surveillance et l'optimisation des processus. Il offre des capacités d'imagerie avancées et une analyse complète des défauts, permettant aux fabricants d'améliorer leurs rendements de processus et leur productivité globale. Dans l'ensemble, l'équipement d'inspection des masques et des plaquettes de DCG Models offre aux fabricants de semi-conducteurs des capacités d'imagerie avancées, une sensibilité élevée à la détection des défauts et des outils d'analyse complets, contribuant ainsi à assurer la production de dispositifs semi-conducteurs fiables et de haute qualité.

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