Occasion DNS / DAINIPPON STM-602 #293608962 à vendre en France

DNS/DAINIPPON STM-602 Masque et Wafer Inspection Equipment est un instrument complet pour détecter les défauts sur les photomasques et les wafers. Il utilise des techniques d'imagerie numérique avancées pour inspecter des images structurées, y compris des masques préfabriqués et des plaquettes lithographiquement exposées. Le système est conçu pour offrir une grande vitesse, précision et répétabilité. Il dispose de plusieurs fonctionnalités automatisées, telles que la mise au point et l'alignement automatisés, qui le rendent adapté aux processus d'inspection à haut débit. DNS STM-602 est idéal pour les opérations de production et de recherche et développement. L'unité dispose d'une table d'inspection de 31,3 cm X 31,3 cm (12,3 po X 12,3 po) qui est capable de manipuler un large éventail de substrats et de procédés. Il offre également douze (12) broches de sol réglables, sans statique pour un contact et un alignement optimaux pour différentes tailles et formes de masque et de plaquette. La plage de zoom optique de la machine varie de 0.6X à 10X, facilitant l'inspection de différentes zones avec l'imagerie ou l'optique de focalisation. Une table tournante motorisée est incluse, permettant aux opérateurs d'ajuster l'agrandissement pour inspecter les zones difficiles. DAINIPPON STM-602 Masque et Wafer Inspection Tool dispose d'un atout optique avancé qui utilise à la fois le champ lumineux et l'imagerie en champ sombre. L'imagerie en champ lumineux offre une sensibilité de détection optimale et une cohérence d'inspection, tandis que le champ sombre est idéal pour la détection de petits défauts. Le modèle utilise également une technique de microscopie à balayage laser (LSM) pour l'inspection de surface. La technique permet une imagerie précise et répétable de la surface de l'échantillon. Il utilise un laser pour éclairer la zone de l'échantillon et créer un profil de faisceau mobile sur le matériau cible, révélant diverses propriétés physiques et chimiques de l'échantillon. L'équipement comprend un outil automatisé de profilage de plaquettes qui permet d'inspecter les défauts sur les surfaces supérieure et inférieure de la plaquette. Le logiciel calcule les valeurs de superposition et de décalage focal pour l'alignement de haute précision et la détection des défauts. Enfin, STM-602 Mask & Wafer Inspection System est soutenu par des services de support et de maintenance, permettant aux utilisateurs de maximiser les performances et la fiabilité de leur unité. Ces services comprennent des conseils techniques, la maintenance préventive, l'étalonnage et la mise à niveau des machines, ainsi qu'une garantie internationale.