Occasion DNS / DAINIPPON STM-603-PLS #293616221 à vendre en France

DNS (Diamond Navigation Equipment) DNS/DAINIPPON STM-603-PLS est un système japonais d'inspection des masques et plaquettes. L'unité est capable d'inspecter les défauts sur les masques et les plaquettes avec une grande précision et résolution. Il utilise un certain nombre de technologies telles qu'une machine à balayer unique, monté avec des caméras numériques stéréo et un scanner laser semi-conducteur. L'outil est idéal pour le contrôle des matériaux de substrat de plaquettes et de masques semi-conducteurs. L'actif contient un étage de substrat de précision avec une mesure rapide et précise. Il utilise la technologie d'inspection de défection en ligne de balayage et hors axe pour fournir une évaluation détaillée et précise des défauts. Il intègre également la technologie laser la plus récente pour réaliser le balayage haute résolution et l'analyse des défauts. Le modèle est équipé d'un équipement de classification automatisé unique pour évaluer les défauts sans intervention de l'opérateur. Le système offre une variété de fonctions intégrées, y compris un sous-pixel hors axe de 360 degrés, agrandissement multi-zoom, profil de surface 3D et d'autres fonctionnalités conviviales pour mesurer, analyser et évaluer les composants de masque et de substrat de plaquette. Il offre également un alignement rapide et précis des plaquettes, en utilisant à la fois l'auto-focus et l'approche manuelle. L'algorithme auto-focus assure le focus d'image optimal pour chaque couche, couvrant une plus large gamme d'angles. De plus, l'unité est équipée d'une fonction de « marquage laser » pour détecter les marques défectueuses sur les masques et les substrats. La machine DNS STM-603-PLS comprend également une fonction unique de « commutateur rapide », permettant à l'outil de basculer rapidement entre différents types de méthodes de balayage de surface et d'inspection. Cette fonctionnalité permet à l'actif d'inspecter et d'analyser rapidement une variété de zones de plaquettes avec facilité. Le modèle est développé pour offrir l'ultime dans l'inspection de plaquettes semi-conductrices, masque et substrat, en fournissant plus de précision, de fiabilité, de vitesse et de facilité d'utilisation que jamais auparavant. Cet équipement est ainsi devenu un outil indispensable dans l'industrie des semi-conducteurs, et est capable de fournir des contrôles précis, avec des temps de retour plus rapides, et un débit plus élevé que jamais.