Occasion ESI / MICROVISION 3900 #9255776 à vendre en France

ID: 9255776
Style Vintage: 1995
IC Mark / Lead inspection systems 1995 vintage.
ESI/MICROVISION 3900 est un équipement complet d'inspection des masques et des plaquettes qui combine l'imagerie précise, l'examen avancé des défauts et l'analyse approfondie des données pour fournir la détection et la classification robuste des défauts nécessaires aux procédés avancés de semi-conducteurs. Ce système tire parti de l'optique avancée, de la technologie algorithmique intelligente et d'un large éventail d'outils de capture et d'analyse d'images numériques pour assurer une inspection rapide et fiable des masques et des plaquettes. Le masque et la plaquette sont scannés par l'unité optique automatisée haute résolution d'ESI 3900. La machine à lentilles comprend un appareil photo portable avec zoom manuel ou automatique, mise au point et réglage de l'exposition. Cela permet d'optimiser l'agrandissement de l'image pour l'inspection des masques et des plaquettes. Il dispose également d'un moniteur embarqué qui affiche les images dans différents modes pour la détermination rapide des défauts. MICROVISION 3900 propose une inspection rapide des masques et des plaquettes avec des techniques d'imagerie numérique et des algorithmes avancés de détection des défauts. Cela permet à l'outil de localiser rapidement et précisément les petits défauts difficiles à détecter. Il peut même détecter des défauts à de multiples grossissements, permettant aux ingénieurs de trouver rapidement les sections les plus sujettes à des problèmes d'un produit donné. 3900 est conçu avec des capacités avancées d'inspection des plaquettes. Il analyse rapidement et avec précision toute la gamme des caractéristiques de disposition des plaquettes, de grossière à ultra-fine. Il peut également inspecter et détecter les défauts de lithographie, les particules et la contamination, la résistivité et la topographie de surface. ESI/MICROVISION 3900 utilise une interface graphique flexible, des flux de travail réglables et de puissants outils d'analyse d'image pour rationaliser le traitement des données. Il prend également en charge les options d'automatisation avancées, y compris le stockage et la récupération de données programmables, la détection automatisée des défauts et la classification des défauts. Cela élimine le sauvetage des grandes images et permet une classification rapide et précise des défauts. Dans l'ensemble, l'ESI 3900 est l'un des systèmes d'inspection des masques et plaquettes les plus fiables et les plus efficaces actuellement disponibles. Il est bien adapté aux procédés semi-conducteurs avancés qui nécessitent une imagerie haute vitesse et haute résolution. Ses capacités permettent aux ingénieurs de trouver rapidement des défauts difficiles à détecter et de rationaliser l'efficacité de leurs processus de production.
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