Occasion ESI / MICROVISION MVT 7080 #293626852 à vendre en France

ESI/MICROVISION MVT 7080 est un équipement haut de gamme d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Offrant une imagerie précise et haute résolution de motifs aussi petits que 150 nanomètres, le système fournit à la fois des images de haute qualité et des mesures précises pour l'inspection manuelle et l'examen ou la détection automatique de problèmes. ESI MVT 7080 est alimenté par des algorithmes sophistiqués et de pointe, permettant aux utilisateurs de capturer des images claires de différentes tailles et formes, telles que des lignes et des cercles. Les images sont traitées à l'aide d'estimateurs et d'inspecteurs de haute précision qui produisent des informations quantitatives fiables. Ces informations peuvent alors être utilisées pour détecter des erreurs de traitement et pour vérifier la mise en place de fonctionnalités sur des circuits. L'unité comprend deux composantes principales : un module d'inspection des masques (MIM) et un module d'inspection des wafers (WIM). Le MIM effectue des inspections par masque à une résolution maximale de 0,6 μ m et une profondeur de champ pouvant atteindre 32 mm. L'utilisation d'images numériques CCD avancées et d'algorithmes brevetés permet à la machine d'identifier et de quantifier les défauts d'imagerie, même dans des mises en page de masques complexes. Le WIM permet une inspection précise des dimensions maximales des plaquettes jusqu'à 200mm. En utilisant le dernier détecteur automatique de défauts pour l'inspection des plaquettes (ADDI), le WIM peut détecter et mesurer les défauts de surface, les défauts de motif et les défauts de film avec une précision de mesure inférieure à 30 nanomètres. Cet outil hautement automatisé offre en outre des algorithmes avancés pour la classification et le redimensionnement des défauts, permettant un contrôle de qualité plus rapide et plus précis. Enfin, l'actif est très modulaire et extensible, ce qui permet aux utilisateurs d'effectuer facilement des inspections complexes en plusieurs étapes. Avec l'ajout d'un étage de substrat optionnel ou d'une station de gros nanoprobe, MICROVISION MVT 7080 peut être utilisé pour inspecter une variété de matériaux, y compris de grands substrats et même des structures nano-échelle. MVT 7080 est un excellent choix pour les professionnels des semi-conducteurs à la recherche d'un modèle fiable et précis d'inspection des masques et plaquettes. Cet équipement fournit une imagerie extrêmement haute résolution, un traitement efficace des données, une détection automatisée des défauts et une classification avancée des défauts, permettant aux professionnels du contrôle de la qualité de détecter et de traiter rapidement et avec précision les problèmes de fabrication.