Occasion ESTEK WIS-850 #293595284 à vendre en France

ESTEK WIS-850
ID: 293595284
Wafer defect inspection system.
ESTEK WIS-850 est un équipement avancé d'inspection de masque et de plaquette à base de vision conçu pour fournir des capacités d'inspection et d'examen de haute performance pour les images de masque et de plaquette. Le système combine la technologie de caméra CCD haute résolution avec des algorithmes sophistiqués de traitement d'image pour inspecter et détecter rapidement les défauts des matériaux et des structures utilisés en microélectronique. WIS-850 est capable d'inspecter les structures et les caractéristiques à l'échelle nanométrique sur les plaquettes et les masques. Il permet d'identifier les motifs des lignes, les tailles des caractéristiques, les défauts, l'épaisseur du film, les caractéristiques des photorésistances et les non-uniformités des CD. L'unité a une grande profondeur de focalisation pour la mesure précise du profil d'image 3D et peut intégrer la vérification multi-champs pour assurer la fiabilité de l'inspection et réduire la perte de rendement. La machine utilise des algorithmes d'inspection uniques pour la reconnaissance des défauts, la reconnaissance des images et l'appariement des motifs. Il peut détecter des défauts de surface, y compris des trous d'épingle, des défauts hydrophiles ou hydrophobes causés par de mauvais revêtements et des contaminants, ainsi que des déformations de surface causées par des interstices d'air. Il dispose également d'une gamme complète de capacités de réduction et d'affichage des données pour permettre une analyse fiable des défauts liés aux données. Le module de contrôle statistique de la qualité (SQC) de l'outil permet aux utilisateurs de comparer les résultats des tests avec les valeurs cibles, de surveiller la performance du processus et de générer un rapport en temps réel mettant en évidence la corrélation entre la qualité du produit et la performance du processus. Le module permet également le test dynamique multi-paramètres et la catégorisation des défauts, ainsi qu'un outil de surveillance des lentilles de grossissement. ESTEK WIS-850 dispose également d'une fonction d'inspection des plaquettes de haute précision qui permet d'examiner rapidement les structures des appareils sans avoir besoin d'images individuelles de masque et de plaquettes. Il dispose également d'un actif automatisé de détection et de classification des particules qui permet d'identifier la taille, la densité et la forme des particules pour la surveillance précoce de l'état des outils. Le modèle comprend également un module de déviation du faisceau pour réduire les inspections répétées, ainsi que des algorithmes d'inspection optique avancés pour la classification précise des défauts des motifs 1D et 2D. WIS-850 est un puissant équipement d'inspection de masque et de plaquettes composé de matériel sophistiqué et de composants logiciels qui aident à réduire les pertes de processus et de contrôle de la qualité. Les capacités robustes d'inspection et d'examen du système offrent aux utilisateurs une meilleure détection des défauts, une précision pour la mesure du profil d'image 3D, des tests multi-paramètres, la détection et la classification des particules, et des algorithmes d'inspection optique.
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