Occasion ESTEK WIS-850 #9168977 à vendre en France

ESTEK WIS-850 Mask & Wafer Inspection Equipment est un microscope optique automatisé conçu pour l'inspection et la mesure des défauts de niveau des masques et des plaquettes avec une extrême précision. Avec ses techniques d'éclairage de pointe, son optique personnalisée avancée et ses composants d'imagerie haute définition, WIS-850 offre des performances de haute résolution, même sur les surfaces les plus difficiles. L'étage optique motorisé 5 axes ESTEK WIS-850 permet à l'utilisateur de manoeuvrer précisément l'échantillon sous contrôle, en fournissant un accès complet à 360 degrés et une rotation illimitée de l'étage. Un système intégré d'autofocus de précision s'assure que les échantillons sont toujours au centre de l'inspection, peu importe la taille des caractéristiques ou la planéité de la surface. Une interface logicielle intuitive offre de puissantes capacités d'adaptation des motifs pour identifier facilement les anomalies. L'estimation automatisée des classes de défauts prédéfinies et de la mesure de la taille est réalisée à l'aide d'un certain nombre d'algorithmes de traitement d'image différents. L'unité peut mesurer les formes, tailles et angles des caractéristiques pour garantir la précision de la qualité de la production. Ce type de données peut être utilisé pour identifier tout défaut existant dans l'échantillon et également réduire le potentiel de contamination. WIS-850 est également équipé d'un grand espace mémoire dans la machine et de puissantes capacités de traitement. Cela permet de prendre et de stocker un grand nombre d'images simultanées dans sa mémoire, ce qui permet une inspection plus rapide et un débit plus élevé. Le module d'éclairage LED haute puissance assure un excellent contraste d'image et une robustesse dans des conditions de faible luminosité, ce qui le rend adapté à des applications non standard telles que les zones difficiles d'accès. Afin de satisfaire aux exigences les plus strictes en matière de contrôle et d'analyse de la qualité, ESTEK WIS-850 prend en charge une gamme de mesures de décalage et d'erreur utiles pour l'inspection des défauts au niveau des masques et des plaquettes. Cet outil peut être utilisé pour des inspections tant au niveau partiel qu'au niveau des actifs, permettant de détecter même les anomalies les plus minuscules dans les masques et les plaquettes. Avec ses résultats précis et fiables, une résolution d'imagerie impressionnante et de puissantes fonctionnalités logicielles, WIS-850 Mask & Wafer Inspection Model est un choix idéal pour tout cadre de laboratoire.