Occasion ESTEK WIS-900 #293595286 à vendre en France

ESTEK WIS-900 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir une précision et une répétabilité supérieures tout en inspectant la mémoire de technologie avancée et les plaquettes logiques aux vitesses les plus élevées. Son logiciel intégré permet aux utilisateurs de détecter et d'identifier rapidement et avec précision les défauts potentiels des plaquettes et des masques avec des taux de précision élevés pour des résultats à haut rendement. Le système se compose de deux composants : une unité de balayage pilotée par ordinateur pour détecter les irrégularités ou les défauts dans les plaquettes et masques semi-conducteurs, et une machine d'acquisition et d'affichage de données complète pour des affichages de variabilité de défauts puissants et précis. WIS-900 utilise un outil de vision avancée pour améliorer la vitesse et la précision des inspections. Son logiciel comprend un ensemble d'algorithmes spéciaux pour extraire des paramètres de défauts variés, créer et afficher des résultats de mesure, et générer des rapports. L'outil de balayage utilise un étage mobile et une caméra de balayage avec une résolution de 4- μ m pour détecter les irrégularités sur le substrat, avec jusqu'à trois matériaux différents inspectés simultanément. L'introduction de techniques avancées de traitement d'images améliore considérablement la capacité du modèle à détecter les défauts jusqu'à une taille de 0,5 - μ m. Le taux de scan est jusqu'à 200 plaquettes par heure avec jusqu'à 8 000 mesures par plaquette. La taille du champ de balayage est sélectionnable par l'utilisateur et réglable, ce qui permet une inspection complète des défauts de plaquette. Tous les résultats de mesure, ainsi que les images de défaut, peuvent être enregistrés et affichés sur ESTEK WIS-900. L'équipement fournit aux utilisateurs des analyses et des rapports approfondis sur les défauts, tels que la taille, l'emplacement et le type des défauts. Statistiques, les informations de processus peuvent être capturés et affichés avec des données d'échec et de tri, ainsi que des résultats de rendement, affichés avec des graphiques de point, de surf, de ligne et de zone. Le contrôle polyvalent, la collecte de données et l'affichage de WIS-900 permettent aux ingénieurs de processus et de qualité de définir et d'afficher des informations selon leurs intérêts et leurs exigences. ESTEK WIS-900 est un moyen très efficace et robuste d'identifier et de classer les petits défauts sur les dispositifs semi-conducteurs. En plus d'améliorer la détection des défauts, le système améliore la correction des erreurs, la surveillance et le rendement. Il est à la fois convivial et offre une analyse des défauts de haute qualité. La robustesse de l'unité offre la tranquillité d'esprit et la fiabilité à long terme pour tous les types d'inspection de masque et de plaquette.