Occasion FAMECS FRNB-750SA-8E-SV #9259382 à vendre en France

FAMECS FRNB-750SA-8E-SV est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour fournir une évaluation efficace et précise de l'application des semi-conducteurs. Le système est conçu pour être polyvalent avec des fonctionnalités telles qu'un appareil photo haute résolution, la concentration automatique et la fusion des cadres, et une source lumineuse multi-position. L'unité est capable d'acquérir des images de haute précision des masques et des plaquettes avec sa caméra CCD haute résolution et sa combinaison de source lumineuse. La caméra CCD est capable de capturer 4 000 images de grossissement de motifs de masque et de plaquettes, avec une résolution allant jusqu'à 10 μm (micromètres). La caméra CCD se combine avec un objectif spécialisé avec la focalisation automatique et les capacités de fusion d'images pour l'imagerie de géométrie difficile tels que les CD (substrats de dimension critique). La machine est également conçue avec une source lumineuse multi-position, pour faciliter l'acquisition d'images sous différents angles. Ceci est particulièrement utile pour révéler des caractéristiques difficiles à capturer sur les masques et les plaquettes, comme les biseaux coudés ou les motifs gravés en profondeur. L'avantage de cette source lumineuse multi-positions est une plus grande exhaustivité et précision dans les images capturées, grâce à une variété d'angles de vision inspectés. De plus, l'inspection des masques et des plaquettes devient plus efficace en raison de la capacité de revoir rapidement sous différents angles capturés dans un même cadre. L'outil est conçu pour être convivial avec un panneau de retour d'image intuitif. Il intègre une variété d'images, de commentaires et de statistiques basés sur les tendances, telles que l'intensité min/max, le nombre total de pixels, etc. Ce panneau permet aux utilisateurs d'examiner, d'inspecter et de valider les images obtenues à partir de la caméra CCD. L'actif a également la capacité d'effectuer l'analyse des défauts des schémas de circuits avec ses fonctions de mesure et de jugement. Les utilisateurs peuvent rapidement juger et valider la qualité des motifs de circuit en calculant la taille min/max de chaque motif, le pourcentage de surface de chaque motif, ou d'autres caractéristiques statistiques. FRNB-750SA-8E-SV Masque et Wafer Inspection Model est conçu pour fournir aux utilisateurs un équipement puissant et efficace qui capture des images de qualité des masques et des wafers avec sa caméra CCD haute résolution et sa combinaison de sources lumineuses multi-positions. Ses fonctions intuitives de rétroaction d'image et d'analyse des défauts font de l'inspection et de la validation un processus rapide et efficace. C'est une excellente solution pour les utilisateurs qui doivent évaluer avec précision et rapidité leurs applications semi-conductrices.