Occasion HENNECKE He-WI-03 #9071444 à vendre en France

HENNECKE He-WI-03 est un équipement d'inspection Masque et Wafer pour les applications de mesure de motifs optiques. Son capteur d'imagerie haute résolution produit une excellente qualité d'image, permettant aux chercheurs et aux ingénieurs d'inspecter avec précision les images masquées et d'évaluer le positionnement des défauts. Le système dispose d'un design compact avec un seul microscope, une caméra CCD adaptée et une machine de positionnement. Le microscope capture des images haute résolution avec une plage de grossissement jusqu'à 64x et peut être ajusté pour se concentrer sur des plaquettes de 0,5 mm à 3,5 mm de taille. Cette plage de zoom et de focalisation précise le rend idéal pour capturer des images détaillées de motifs de plaquettes à un haut niveau de précision. L'outil de caméra est équipé d'un dispositif de couplage de charge avancé (CCD) et peut capturer des images jusqu'à 5 mégapixels avec une profondeur de couleur améliorée de douze bits. Il dispose également d'un actif avancé de traitement d'image, permettant aux utilisateurs d'examiner des images pour des défauts spécifiques et de déterminer avec précision le positionnement des défauts. L'équipement de positionnement du modèle permet non seulement la capture précise de l'image de la plaquette, mais aussi le placement automatisé des images du masque au microscope. Ceci garantit que les images placées au microscope sont correctement alignées avec le masque, éliminant l'erreur de l'utilisateur et simplifiant les mesures. He-WI-03 est également intégré avec un logiciel spécial qui permet aux utilisateurs de comparer les images du masque client aux masques générés en interne et aux images défectueuses. De plus, le logiciel permet aux utilisateurs de visualiser la localisation et la distribution des défauts dans l'image, augmentant ainsi la précision du processus d'inspection. Le système fournit des données précises et fiables, et convient à la fois en ligne et hors ligne. Grâce à ses performances d'image améliorées et à son logiciel convivial, HENNECKE He-WI-03 permet d'identifier et d'analyser facilement les défauts des plaquettes.