Occasion HENNECKE HE-WI-05 #9168043 à vendre en France

HENNECKE HE-WI-05 Masque et Wafer Inspection Equipment est un système automatisé utilisé pour inspecter les masques et les plaquettes de circuit intégré (IC) avant qu'ils ne soient utilisés pour la fabrication d'appareils. L'unité offre une imagerie haute résolution, une détection fiable des défauts et des mesures répétables sur différents lots de production. Il est spécifiquement conçu pour répondre aux exigences strictes de l'industrie des semi-conducteurs. HE-WI-05 utilise une machine optique à base de laser qui utilise une technique d'imagerie connue sous le nom de scatterométrie pour mesurer la topologie des masques et plaquettes IC. L'outil comprend une caméra CMOS numérique et un illuminateur laser pour capturer les images haute résolution des pièces inspectées. Les images sont ensuite traitées à l'aide d'algorithmes avancés de traitement d'images pour détecter d'éventuels défauts de surface tels que rayures, particules, taches, etc.. L'actif est configurable avec différentes résolutions et ouvertures, permettant l'inspection de petites et fines structures. De plus, HENNECKE HE-WI-05 intègre une commande de focalisation automatisée qui utilise un objectif de zoom motorisé à grande vitesse pour ajuster la focalisation de la caméra. Cela garantit que les images capturées par le modèle sont correctement focalisées. L'équipement comprend également un système d'inspection de surface de lentilles objectives qui est utilisé pour permettre une forme particulière de scatterométrie. Cette unité offre également une mesure sans contact des caractéristiques exposées ainsi que des tailles de caractéristiques. HE-WI-05 peut également être configuré pour recueillir des données statistiques à partir des inspections. Cela inclut des informations telles que le nombre et la taille des défauts, ainsi que d'autres qualités de surface. Cela peut être utilisé pour fournir des rapports complets d'assurance de la qualité sur le processus de production. Dans l'ensemble, HENNECKE HE-WI-05 Masque et Wafer Inspection Machine est un outil avancé qui offre des mesures précises, répétables et fiables des masques et wafers IC. Il fournit des images de haute qualité pour la détection précise des défauts, ainsi que des données statistiques pour l'assurance de la qualité. Ceci en fait un outil indispensable pour l'industrie des semi-conducteurs.