Occasion HERMES MICROVISION / HMI eP3 XP #9309099 à vendre en France

HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de haute précision conçu pour fournir une solution complète et rentable pour le contrôle avancé des procédés et l'optimisation des rendements dans la fabrication de micro- et nanoélectroniques semi-conducteurs. Il offre la capacité de détecter les défauts à la fois dans les masques monocouches et multicouches, ainsi que sur les plaquettes standard et à haut rendement. HMI eP3 XP dispose d'une collection de petits champs de vision (FOVs) qui couvrent l'ensemble de l'échantillon. Cela garantit que le champ de vision pour l'inspection des masques et des plaquettes est approprié à toutes les étapes du processus de fabrication. Ce système est équipé de deux caméras CCD intégrées - une pour l'éclairage de lumière non visible et une pour l'éclairage de lumière visible pour donner une couverture optique complète de l'échantillon entier. Il dispose également d'un moteur de pré-traitement d'image pour filtrer le bruit de fond et réduire les effets d'ombre, ainsi que d'un logiciel de reconnaissance de motifs pour détecter les défauts les plus fins jusqu'au niveau sub-micron. L'unité est conçue pour fonctionner avec divers substrats, dont le silicium, le saphir, le quartz et le silicium polycristallin. Il inspecte une gamme de surfaces avec une précision automatisée, y compris plate, courbe et 3D. HERMES MICROVISION eP3 XP permet une inspection rapide et précise des masques, plaquettes et substrats avec une intervention manuelle minimale. Il fournit des résultats fiables et cohérents, et ses algorithmes avancés de traitement optique et d'image protègent les rendements maximums des processus, réduisant les erreurs coûteuses et les rebuts. La machine comprend également un logiciel facile à utiliser conçu pour l'analyse et la déclaration automatisées des données. L'EP3 XP peut être intégré aux logiciels d'entreprise et aux serveurs de données pour faciliter le transfert efficace des résultats des inspections. Il comprend des fonctions avancées telles que la cartographie du site, l'échantillonnage d'une carte et le suivi des modèles, et prend en charge une variété de langues. HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP est un outil d'inspection de masque et de plaquette très fiable et efficace avec une empreinte minimale. Il peut gérer de grandes tailles d'échantillons et des mises en page complexes avec une précision et une précision constantes, tandis que ses commandes intuitives le rendent facile à utiliser. Ses caractéristiques et ses performances en font un choix approprié pour les fabricants de semi-conducteurs qui recherchent une assurance qualité avancée et une optimisation des processus.