Occasion HERMES MICROVISION / HMI eScan 315xp #293595412 à vendre en France

HERMES MICROVISION/HMI eScan 315xp est un puissant équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir une inspection optique automatisée et de haute précision des composants semi-conducteurs à petite échelle. Le système dispose d'une multitude de fonctionnalités, y compris une résolution d'imagerie complète de 10 nm, une capacité supérieure d'acquisition d'images et d'analyse d'images, des temps d'analyse d'échantillons ultra-rapides, et plusieurs outils et options logicielles avancées. HMI eScan 315xp utilise une unité optique de pointe, composée d'une source de lumière UV de 190nm de profondeur, d'un objectif de microscope et d'une caméra numérique haute résolution. La machine offre des performances d'imagerie supérieures grâce à son outil optique ultra-sensible, permettant une imagerie de haute précision des structures jusqu'à 10nm. Les algorithmes d'imagerie avancés de l'actif fournissent une capture et une analyse d'image à grande vitesse et un contraste d'image exceptionnel, ce qui le rend idéal pour une gamme de besoins d'inspection des plaquettes et de reconnaissance des lignes d'impression. HERMES MICROVISION eScan 315xp est également livré avec une suite d'outils logiciels automatisés. Il s'agit notamment de l'inspection avancée des masques, de l'inspection des substrats et des outils de détection des défauts. L'outil d'inspection du masque permet la détection rapide et automatisée des défauts dans les motifs de photomasques, tandis que l'outil d'inspection du substrat permet la détection précise à bord des défauts critiques dans les substrats de photolithographie. L'outil de détection des défauts du modèle peut être utilisé pour identifier les défauts critiques de rendement dans les couches de film et de silicium, et peut fournir une analyse détaillée et des rapports sur la couverture des défauts propres aux plaquettes. L'équipement dispose également d'une gamme de caractéristiques intégrées. Il s'agit notamment des taux d'analyse programmables, de l'archivage des données sensibles et du traitement des erreurs à l'échelle du système. La fonction de numérisation avancée permet un balayage plus rapide, tandis que la fonction d'archivage des données garantit que les données d'image acquises peuvent être stockées en toute sécurité. Les systèmes de gestion des erreurs de l'unité le rendent idéal pour les applications critiques de la mission, offrant une protection sûre contre les événements catastrophiques potentiels. EScan 315xp est une machine d'inspection de masque et de plaquettes incroyablement puissante et polyvalente conçue pour des performances supérieures dans une gamme d'applications. Sa combinaison de précision optique, de performances d'imagerie, d'outils logiciels avancés et de fonctionnalités utiles en font un outil inestimable pour l'inspection et l'essai de composants semi-conducteurs.