Occasion HERMES MICROVISION / HMI eScan 400 #293666956 à vendre en France

HERMES MICROVISION / HMI eScan 400
ID: 293666956
E-Beam defect inspection system.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 400 est un équipement de haute performance, de masque de précision et d'inspection des plaquettes conçu pour les fabricants de semi-conducteurs. Ce système avancé peut détecter de petits défauts dans les masques et les plaquettes de conception avancée pour 100-millions de pixels inspectés par seconde de vitesse. Le HMI eScan 400 est équipé d'un puissant spectromètre laser qui offre des capacités supérieures de détection et de reconnaissance des défauts, et d'une caméra CCD haute résolution qui assure des mesures et des analyses précises des défauts. Cette unité utilise également la technologie d'imagerie 3D, qui est capable de détecter et de quantifier les défauts même au niveau du nanomètre. Grâce à l'utilisation d'algorithmes de reconnaissance de motifs, HERMES MICROVISION eScan 400 peut détecter de très petites irrégularités et contaminants dans le masque et le matériau de plaque. La machine intègre également une variété de fonctions d'essai automatisées, comme l'analyse automatisée des bords, la détection de contamination et l'analyse de la densité des défauts, ce qui permet de réduire au minimum le temps et les coûts associés au processus d'inspection. En outre, le processus automatisé permet un traitement et une analyse plus rapides de volumes importants de données tout en assurant un niveau élevé de précision. EScan 400 est conçu pour être modulaire et extensible pour répondre aux demandes futures ainsi que pour gérer une variété de tâches. Son outil automatisé de détection de position lui permet de détecter, mesurer et signaler avec précision les défauts dans une variété de formes, de tailles et de matériaux. En outre, cet atout utilise une plate-forme logicielle flexible, permettant la programmation de tâches supplémentaires et la personnalisation de l'analyse. HERMES MICROVISION/HMI eScan 400 révolutionne le processus d'inspection des masques et des plaquettes. Sa haute performance et sa précision, associées à une conception économique et robuste, en font le modèle idéal pour les fabricants de semi-conducteurs.
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