Occasion HERMES MICROVISION / HMI eScan 500 #9281328 à vendre en France

HERMES MICROVISION / HMI eScan 500
ID: 9281328
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2014
E-Beam inspection system, 12" 2014 vintage.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 500 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes utilisé pour évaluer la qualité des plaquettes et réticules semi-conducteurs. Il offre une vue complète et haute résolution de la plaquette pour la détection, la mesure et la classification des défauts dans la structure de la plaquette. Ce système avancé utilise un microscope électronique à balayage avec une caméra numérique haute résolution pour inspecter les surfaces des plaquettes et des masques à semi-conducteurs. L'unité HMI eScan 500 est conçue avec une plate-forme ergonomique, permettant un accès facile au microscope intégré, caméra numérique, et d'autres composants. L'étage X-Y numérique motorisé qui fait partie de la machine permet un alignement précis des échantillons et la navigation. Le logiciel de contrôle de numérisation utilisé pour cette machine est convivial et peut être configuré pour déterminer la taille et le type de la plaquette, du masque et du réticule qui est inspecté. HERMES MICROVISION eScan 500 est également livré avec un outil automatisé de détection et de classification des défauts, qui peut être utilisé pour détecter et classer tous les types de défauts répartis aléatoirement. Cet actif est conçu avec une microspectroscopie Raman ultraviolette et une analyse d'image, qui permet de localiser les défauts et de les classer en fonction de leur taille, de leur forme et de leur type. Ce modèle acquiert également automatiquement des données de toutes les caractéristiques du spécimen inspecté, éliminant ainsi l'entrée manuelle de l'utilisateur. En plus de l'analyse des défauts, l'équipement eScan 500 est également capable de mesurer les différentes caractéristiques de la plaquette, du masque et du réticule. Cela comprend des mesures telles que la largeur des lignes, le profil des bords, le recouvrement et la résistivité. De plus, le système est également capable d'évaluer les niveaux de contraintes variables de la plaquette ou du réticule. Toutes ces données sont stockées dans une base de données pour un examen et une analyse ultérieurs, ce qui augmente l'efficacité de la machine. Dans l'ensemble, HERMES MICROVISION/HMI eScan 500 est une unité puissante pour l'inspection des plaquettes semi-conductrices et des réticules. Il fournit une vue d'ensemble du spécimen, permettant aux utilisateurs d'étudier et d'analyser les différents composants qui composent la plaquette. La machine automatisée de détection et de classification des défauts ajoute de l'efficacité à la machine, tandis que les capacités de mesure fournissent une analyse précise de l'échantillon. Dans l'ensemble, cet outil est essentiel pour s'assurer que la qualité est à la hauteur.
Il n'y a pas encore de critiques