Occasion HITACHI IS 2500 #293657153 à vendre en France

HITACHI IS 2500
ID: 293657153
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 1998
Wafer particle inspection system, 6" 1998 vintage.
HITACHI IS 2500 est un équipement haut de gamme d'inspection de masque et de plaquettes de haute précision qui fournit des solutions complètes de vérification des motifs et de détection des défauts. Le système utilise une unité d'inspection intra-terrain, ce qui lui permet d'obtenir une précision au niveau du nanomètre. Il est conçu pour effectuer des inspections optiques traditionnelles, ainsi que la détection automatique des défauts, en utilisant des algorithmes avancés et des techniques d'apprentissage automatique. La machine profite de son optique haut de gamme, combinée à une optique spécialisée, telle que son optique correctrice d'aberration, pour réaliser la reconnaissance de motifs et la détection de défauts. Sa combinaison unique de lentilles et de miroirs permet à l'outil de produire des images ultra haute résolution sur un large éventail d'angles de vision pour identifier les anomalies ou les imperfections du motif. L'actif dispose d'un algorithme avancé de reconnaissance des motifs qui lui permet d'identifier rapidement les défauts avec un degré élevé de précision. En utilisant des techniques de comparaison de caractéristiques telles que les harmoniques marginales, les discriminateurs haute fréquence et les corrélations croisées, il est en mesure de déterminer efficacement les différences entre les motifs cibles et leurs motifs de référence. Il est capable de détecter les défauts locaux et globaux, y compris les raccourcis électriques, les ruptures, les violations d'espacement et les débordements. Le modèle dispose également d'un équipement de mesure des erreurs de recouvrement très précis qui assure la précision du motif final de la plaquette. Il utilise des techniques d'inspection en ligne et hors ligne pour mesurer et corriger les erreurs de recouvrement vertical et latéral. Il permet de réduire l'erreur de mesure associée au désalignement d'enregistrement et aux inadéquations entre couches successives. Enfin, le progiciel HITACHI IS-2500 comprend une interface d'analyse avancée pour surveiller et analyser les résultats des inspections. Cela comprend les superpositions visuelles, le suivi du temps de défectuosité et la comparaison de plusieurs conceptions et couches pour une même plaquette, ce qui permet d'obtenir des résultats de détection et de vérification très précis. Dans l'ensemble, l'ensemble complet de fonctionnalités et la haute précision de IS 2500 en font un choix idéal pour tous ceux qui recherchent un masque avancé et un système d'inspection des plaquettes. Ses composants optiques spécialisés, ses algorithmes de reconnaissance de motifs et son interface d'analyse lui permettent de fournir des résultats très précis, garantissant que chaque défaut peut être identifié et corrigé.
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