Occasion HITACHI IS 2700 #9243641 à vendre en France

L'équipement HITACHI IS 2700 masque et wafer inspection est une solution complète pour l'inspection optoélectronique des dispositifs semi-conducteurs. Il dispose d'une imagerie parallèle à grande vitesse avec technologie sans contact, qui permet de détecter des défauts au microscope, en temps réel. Ce système est le plus couramment utilisé pour l'inspection de substrats de masque et de plaquettes, ainsi que de substrats revêtus de couches métalliques. L'unité se compose d'une source lumineuse, d'une caméra et d'une unité de commande. La source lumineuse projette un motif lumineux sur le substrat, qui passe ensuite à travers un filtre optique qui sélectionne les longueurs d'onde lumineuses que la caméra peut détecter. La caméra enregistre l'image du substrat et l'envoie à l'unité de commande. L'unité de contrôle traite ensuite l'image et la compare aux spécifications de conception d'origine, ce qui permet de détecter des défauts dans le matériau du substrat. La machine IS 2700 utilise une caméra CCD haute résolution et un algorithme propriétaire de traitement d'image, ce qui lui permet de détecter de très petits défauts dans les substrats. L'outil peut détecter des défauts au niveau microéconomique, y compris des fissures, des vides et d'autres types de déformations, qui peuvent causer une défaillance dans les dispositifs. Cet actif présente également une grande sensibilité aux particules de poussières, qui peuvent être dommageables pour le dispositif. Le modèle est équipé d'une interface utilisateur interactive, qui permet un fonctionnement et une navigation faciles. Il propose une série de menus et d'options, ainsi qu'un logiciel intuitif facile à télécharger et à analyser. En outre, l'équipement est hautement configurable, avec une gamme d'options, de paramètres et de paramètres pour les inspections. En plus des fonctionnalités standard, le système d'inspection HITACHI IS 2700 dispose également d'un composant matériel unique. Il s'agit d'une tête d'imagerie parallèle à grande vitesse, qui consiste en quatre capteurs à diode laser qui génèrent des impulsions de lumière, éclairant une vue large et uniforme du substrat. Cela permet un placement détaillé et précis des images de mosaïque et augmente la précision et la vitesse de l'inspection. IS 2700 est un outil puissant et fiable pour l'inspection optoélectronique des dispositifs semi-conducteurs. Il est capable d'une inspection très précise et rapide des substrats de masque et de plaquettes. Sa technologie sans contact et sa tête d'imagerie parallèle à grande vitesse lui permettent d'être un outil essentiel pour la détection des défauts au micro-niveau. Grâce à son interface utilisateur interactive et à ses options configurables, HITACHI IS 2700 est une solution idéale pour l'inspection efficace et précise des dispositifs optoélectroniques à semi-conducteurs.