Occasion HITACHI IS 2700SE #9083778 à vendre en France

HITACHI IS 2700SE
ID: 9083778
Defect inspection system.
HITACHI IS 2700SE est un équipement de premier plan mondial pour l'inspection des masques et des plaquettes. Il est conçu pour aider les fabricants de semi-conducteurs et de microcircuits à mesurer, détecter et extraire les détails pertinents des modèles de masques et de plaquettes pour un contrôle et une optimisation efficaces des processus. Le système est composé de quatre composants principaux : la source lumineuse, la sous-unité de caméra, la machine d'imagerie, et le logiciel d'analyse de superposition. La source lumineuse est une lampe à décharge ultra violette (longueur d'onde d'environ 365nm) d'une puissance d'environ 500W. Le sous-outil de la caméra est chargé de capturer et de transférer la sortie de la source lumineuse vers l'actif d'imagerie. Le modèle d'imagerie est composé de deux composantes principales : la caméra CCD et le microscope binoculaire. Le microscope permet un agrandissement de l'image de la caméra CCD pour détecter les défauts et les défauts rapidement et avec précision. Le logiciel d'analyse de superposition prend ensuite l'image capturée de l'équipement d'imagerie pour déterminer la qualité du motif sur la plaquette ou le masque, ainsi que pour le comparer à des normes prédéfinies. Le système peut supporter une variété de formes de surface et de masques, avec des tailles de pixels allant jusqu'à 8um. Il peut gérer des épaisseurs de couche allant jusqu'à 0,1 um et une taille d'image de 2288 x 1712. Sa portée maximale de focalisation est de 1.3mm et une vitesse de 2.4 cadres par seconde, ce qui en fait un choix idéal pour les procédés de fabrication de haute précision. L'unité comprend une gamme d'applications pour aider les utilisateurs à obtenir les résultats les plus précis. Il s'agit notamment des fonctions d'analyse des données, qui permettent aux utilisateurs d'identifier et d'analyser les défauts sur la plaquette ou le masque. En outre, les fonctions de réglage de précision peuvent être utilisées pour adapter les résultats aux besoins spécifiques des clients. La machine supporte également plusieurs modes de mesure, tels que la détection automatique, la détection manuelle et l'analyse de bases de données de topologie automatisées. L'outil IS 2700SE dispose également d'une interface graphique conviviale (interface graphique). Cela permet aux utilisateurs de sélectionner et de configurer rapidement et facilement l'actif, ainsi que de manipuler des paramètres pour répondre au mieux à leurs besoins. Enfin, le modèle offre des capacités de réseautage flexibles, supportant plusieurs plates-formes, telles que PCNT, TCP/IP, et d'autres réseaux. Dans l'ensemble, les équipements HITACHI IS 2700SE sont une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs et de microcircuits qui cherchent à mesurer, détecter et analyser efficacement les défauts sur les masques et les plaquettes. En utilisant ce système, les fabricants peuvent bénéficier de moins de délais de fabrication, d'une meilleure qualité de rendement et de coûts réduits, assurant ainsi la plus grande précision de fabrication et l'excellence.
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