Occasion HITACHI IS 2700SE #9123256 à vendre en France
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ID: 9123256
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2004
Defect inspection system, 12"
Process: Scanning electron microscope(SEM)
(2) Loadports: TDS TAS3000
Dalsa controller
TDI Sensor
Laser box
Microscope
Stage assy
Controller card cage (left):
CPK B/D Slot 11~15, 20, 22~25
CPK B/D Slot 16~19, 21
Macro 6642 B/D
TECTRON B/D
Controller card cage (right):
BPK B/D Slot 11~14,17~20, 22~25, 28~31
BPK B/D Slot 15,16, 21,26,27, 32~34
Operation module:
System computer
(3) Power supplies
CCD monitor
PC monitor
Video printer
Laser power switch box
Coherent laser controller
Keyboard, joystick, trackball
Rear cover missing
Power: AC200V, 1 Phase, 3-wires, 50/60Hz, 60A
2004 vintage.
HITACHI IS 2700SE masque et équipement d'inspection des plaquettes est un système d'inspection optique automatisé avancé conçu pour l'analyse efficace des photomasques et des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs et de l'électronique. Il offre des capacités d'inspection rapides et remarquablement précises qui permettent d'identifier rapidement les défauts dans les conceptions nouvelles et existantes. La conception d'IS 2700SE est dotée d'un robot 6 axes de précision et d'un capteur de traitement d'image de 80 mégapixels qui permet d'inspecter les masques et les plaquettes de début avec des détails extrêmement fins. Il offre à la fois des inspections frontales et inverses ainsi que des inspections multiples complexes. En outre, ses capacités d'inspection des plaquettes comprennent l'identification des défauts sur les substrats de quartz et de verre. HITACHI IS 2700SE utilise des technologies d'imagerie optique de haute précision pour détecter avec précision même les plus petits défauts avec jusqu'à 2 nanomètres de taille. Unique à l'unité est la configuration d'optique confocale multi-faisceau qui permet à la machine d'obtenir une image sensiblement plus précise qu'un outil d'objectif typique. Cela permet à IS 2700SE d'identifier plus rapidement les défauts, en enregistrant des résultats précis en quelques secondes. Avec une gamme de sondes disponibles pour gérer toute combinaison de types de masques et de plaquettes, l'actif peut inspecter la surface plane, microéléments, surfaces de pas, ainsi que les matériaux rainurés. Le modèle dispose d'une gamme de tests automatisés et peut être utilisé avec une variété de logiciels qui permet aux utilisateurs de visualiser les résultats et de définir les paramètres des tests afin qu'ils puissent être menés plus rapidement et plus efficacement. Le logiciel comprend la classification des défauts, le réglage de la détection, l'inspection par zone, la localisation des défauts, les modèles de seuil et les cartes séquentielles des défauts. HITACHI IS 2700SE offre une large gamme d'outils qui permettent aux utilisateurs de personnaliser la façon dont les tâches sont exécutées. Ceux-ci comprennent la mémoire d'image et de défaut, la programmation automatique de transformation, et la surveillance du flux de travail de détection. Il dispose également d'une interface interface graphique conviviale qui simplifie le fonctionnement et élimine la nécessité de la présence d'un opérateur. IS 2700SE est un outil très fiable et efficace pour l'analyse efficace et la détection automatisée des défauts dans les photomasques et les plaquettes. Avec ses tests automatisés et son interface graphique conviviale, il offre de puissantes capacités d'inspection et est un must pour toute installation de fabrication de semi-conducteurs et d'électronique.
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