Occasion HITACHI WS-50-1 #9396596 à vendre en France

HITACHI WS-50-1 Mask and Wafer Inspection Equipment est un outil d'imagerie de haute précision utilisé pour l'inspection des défauts de motifs sur les plaquettes telles que le côté avant et le côté arrière des plaquettes, les modèles de masques et les processus spéciaux. Ce système utilise des techniques de métrologie avancées pour mesurer les caractéristiques des motifs avec une précision et une efficacité extrêmes. En outre, cette unité peut être utilisée dans des systèmes autonomes et intégrés pour des applications multiples. La machine est bien adaptée aux applications industrielles et de qualité de recherche et est capable d'imiter une seule plaquette avec une taille minimale de 76.2mm et une taille maximale de 300mm. Il est en outre équipé d'une fonction d'imagerie « multi-focus » unique qui permet d'obtenir des images claires même avec des plaquettes d'épaisseurs différentes. L'outil comporte également une fonction « multi-wafer inspection » qui permet d'inspecter plusieurs wafers simultanément. De plus, WS-50-1 Mask and Wafer Inspection Asset offre des capacités d'acquisition d'image de haute qualité grâce à sa caméra CCD haute définition et son adaptateur C-Mount interchangeable. Ce modèle est extrêmement fiable et peut être utilisé en salle blanche et dans des environnements industriels grâce à son équipement optique UV à ondes courtes pour une imagerie claire et non déformée jusqu'à des couches de 100mm. HITACHI WS-50-1 dispose également d'un processeur haute vitesse avec disque dur de grande capacité et un design silencieux et économe en énergie. Le système de numérisation avancé assure une imagerie rapide et de haute précision avec une reconnaissance rapide des motifs afin d'améliorer la capacité de l'unité à identifier rapidement et avec précision les défauts. La machine de contrôle conviviale permet une inspection facile des défauts de motif sur les plaquettes et les masques. Cet outil comprend également un atout intuitif de gestion de données qui permet de stocker, gérer et exporter des données d'image pour assurer des résultats cohérents et fiables. WS-50-1 Masque et Wafer Inspection Model peuvent être utilisés pour la détection précise et efficace des défauts dans diverses industries telles que les semi-conducteurs, les écrans plats et d'autres industries où l'imagerie précise est essentielle.